在此过程中,数据寄存器会被配置到TDI-TDO之间(可以理解为点到点之间的串行连接)。在Capture-DR状态下,TCLK的驱动,芯片管脚上的输出信号会被“捕获”到相应的边界扫描寄存器单元中去。这样,当前的数据寄存器当中就记录了芯片相应管脚上的输出信号。接下来从Capture-DR进入到Shift-DR状态中去。在Shift-DR状态中,由TCK...
在此过程中,数据寄存器会被配置到TDI-TDO之间(可以理解为点到点之间的串行连接)。在Capture-DR状态下,TCLK的驱动,芯片管脚上的输出信号会被“捕获”到相应的边界扫描寄存器单元中去。这样,当前的数据寄存器当中就记录了芯片相应管脚上的输出信号。接下来从Capture-DR进入到Shift-DR状态中去。在Shift-DR状态中,由TCK...
TAP状态机首先进入Capture_DR,在一个TCLK时钟的驱动下,芯片管脚上的信号状态全部被捕获到相应的边界扫描移位寄存器单元当中去(如图11)。接着进入Shift-DR,这个时候进行串行移位的操作。图2给出了经过两个时钟移位后的示意图(每个时钟一
Part1:一组关键的控制信号TMS,TDI,TDO,TCLK,以及一个可选的复位信号TRST TMS :外部输入驱动 JTAG 的一个单 bit 信号。核心功能是完成对 TAP 控制器的状态控制 TCLK:顾名思义,就是外部给 JTAG 的一个时钟信号 TDI :测试数据输入,用来将串行测试数据和指令移入芯片 TDO:测试数据输出,结合 TDI 的定义,就是...
在Capture-DR状态下,TCLK 的驱动, 芯片管脚上的输出信号会被“捕获”到相应的边界扫描寄存器单元中去。这样,当前的数据寄存器当中就记录了芯片相应管脚上的输出信号。接下来从Capture-DR进入到Shift-DR状态中去。 在Shift-DR状态中, 由 TCK 驱动, 在每一个时钟周期内, 一位新的数据可以通过 TDI 串行输入到数据...
在Capture-IR下,一个特定的逻辑序列被加载到指令寄存器中;然后 TAP 进入Shift-IR状态。在该状态下,受 TCLK 时钟控制,一条特定的指令送入移位寄存器并进行移位的操作。在Updata-IR状态下,移位寄存器中的数据(指令)送入更新指令寄存器中。最后回到Run-Test/Idle,完成指令的加载。
JTAG(Joint Test Action Group)是一个接口,为了这个接口成立了一个小组叫JTAG小组,它成立于1985年,比推丸菌的年龄还大。在1990年IEEE觉得一切妥当,于是发布了 IEEE Standard 1149.1-1990,并命名为 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,这就是大名鼎鼎的JTAG了。
JTAG(Joint Test Action Group)是一个接口,为了这个接口成立了一个小组叫JTAG小组,它成立于1985年,比推丸菌的年龄还大。在1990年IEEE觉得一切妥当,于是发布了 IEEE Standard 1149.1-1990,并命名为 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,这就是大名鼎鼎的JTAG了。
SWD:SW(Serial Wire Mode Interface),串行接口线模式。在串行线模式,只有针TCLK和TMS使用。TDO数据输出引脚是一个可选。 SWD下载调试 原理图: 从图中看到:板子使用SWD接口下载调试,即使用SWDIO、SWCLK(PA13、PA14);PB3–JTDO 默认功能为JTAG的,而这里用作其他的功能–普通I/O。
一类用于Debug;一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。 一个含有JTAG Debug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备 标准的JTAG接口是4线:TMS、 TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。