首先建立一个被加载FPGA开发板的工程,我这边是设计了一个点灯的程序,首先通过Xilinx官方的下载器,下载到开发板,先看一下效果 这样可以确定加载的bit文件没问题,然后在vivado选择生成.bin文件,把生成的bin文件存储到FLASH中,供后续加载使用 六、下板测试 给加载FPGA开发板插上下载器,然后通过杜邦线连接被加载FPGA JT...
JTAG 控制器 1 TAP 6MHz Tck max with Flying Leads 德国原装进口 IFM电感式接近开关特性: 产品特征电气设计PNP/NPN输出功能常开感应距离 [mm]3外壳螺纹结构尺寸 [mm]M8 x 1 / L = 40电气数据工作电压 [V]10 30 DC; (根据PELV标准)电流损耗 [mA]< 15; (只用于3线)防护等级III反相保护有输出电气...
TAP是一个通用的端口,通过TAP可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP Controller来完成的。TAP总共包括5个信号接口TCK、TMS、TDI、TDO和TRST:其中4个是输入信号接口和另外1个是输出信号接口。一般,我们见到的开发板上都有一个JTAG接口,该JTAG接口的主要信号接口就是这5个。
PC控制JTAG:用JTAG电缆连接PC的打印端口或者USB或者网口。最简单的是连接打印端口。 TMS:在每个含有JTAG的芯片内部,会有个JTAG TAP控制器。TAP控制器是一个有16个状态的状态机,而TMS就是这玩意的控制信号。当TMS把各个芯片都连接在一起的时候,所有的芯片的TAP状态...
TAP 是 JTAG 总线的控制接口。IEEE 标准定义了四个强制的 TAP 信号以及一个可选的 TAP 信号。 TDI (Test Data Input) –用于向目标输入数据的串行数据输入信号 TDO (Test Data Output) – 用于从目标获取数据的串行数据输出信号 TCK (Test Clock) – 用于 JTAG 指令/数据寄存器的测试时钟信号 TMS (Test Mode...
加载时序主要是通过JTAG时序去控制TAP控制器状态机去发送相应的指令和数据,TAP状态机如下图所示 Xilinx FPGA通过JTAG接口加载PL程序整体加载过程如下: FPGA上电,且在TEST-LOGIC-RESET状态维持5个sck 进入SHFIT-IR状态,并且加载JPROGAM指令(LSB first) 在IDLE状态至少等待10ms,相当于对FPGA的一个初始化时间 加载CFG_...
PC控制JTAG:用JTAG电缆连接PC的打印端口或者USB或者网口。最简单的是连接打印端口。 TMS:在每个含有JTAG的芯片内部,会有个JTAG TAP控制器。TAP控制器是一个有16个状态的状态机,而TMS就是这玩意的控制信号。当TMS把各个芯片都连接在一起的时候,所有的芯片的TAP状态跳转是一致的。下面是TAP控制器的示意图: ...
•测试访问端口(TAP)控制器。 BST电路一般采用4线测试总线接口,如图1所示,如果测试信号中有复位信号(nTRST),则采用5线测试总线接口。 5个信号分别为: •测试数据输入总线(TDI),测试数据输入至移位寄存器(SR); •测试数据输出总线(TDO),测试数据从SR移出; ...