内存访问端口 (MEM-AP): 此 AP 提供对核心内存和寄存器的访问。 JTAG接入端口(JTAG-AP): 此 AP 允许将 JTAG 链连接到 DAP。 调试 SWD 就只是用来调试(跟踪)的,因此它相对于 JTAG 简单不少,详细的调试协议在 《ARM® Debug Interface v5》的 The Serial Wire Debug Port (SW-DP) 这个章节有介绍。
从AP中读取数据是通过DP完成的。要查询AP,主机必须告诉DP写入是由DAP上的地址指定的AP。为了从之前的事务处理中读取数据,DP使用称为RDBUFF(地址0xc)的特殊寄存器。正确的查询方法如下: 1.写入DP SELECT寄存器,设置APSEL和APBANKSEL字段; 2.读取DP RDBUFF寄存器,以“提交”最后一个事务处理; 3.再次读取RDBUFF寄存...
当然这九个位包括不用的TAP的BYPASS位，但是现在操作想用DR来操作JTAG-DP出现问题，写入DP的CTRL/STAT...
从AP中读取数据是通过DP完成的。要查询AP,主机必须告诉DP写入是由DAP上的地址指定的AP。为了从之前的事务处理中读取数据,DP使用称为RDBUFF(地址0xc)的特殊寄存器。正确的查询方法如下: 1.写入DP SELECT寄存器,设置APSEL和APBANKSEL字段; 2.读取DP RDBUFF寄存器,以“提交”最后一个事务处理; 3.再次读取RDBUFF寄存...
另外，ARM CoreSight产品家族的JTAG-DP模块也可用于调试。在Cortex-M3中，挂载一个称为“嵌入式跟踪宏单元（Embedded Trace Macrocell，ETM）”的组件是常见的。ETM能够持续产生跟踪信息，这些信息通过“跟踪端口接口单元（Trace Port Interface Unit，TPIU）”传递到内核外部。在芯片外部，使用一个“跟踪信息分析仪”...
1.写入DP SELECT寄存器,设置APSEL和APBANKSEL字段; 2.读取DP RDBUFF寄存器,以“提交”最后一个事务处理; 3.再次读取RDBUFF寄存器以读取其实际值。 SELECT寄存器在2.3.9章进行了描述,关键字段如下: 读取的一个有趣的AP寄存器是IDR寄存器(地址0xf),它包含这个AP的标识信息,下面是读取地址0x0处AP的IDR过程的代码。
int retval = jtag_ap_q_bankselect(ap, reg);if (retval != ERROR_OK) return retval;return adi_jtag_scan_inout_check_u32(ap->dap, JTAG_DP_APACC, reg, DPAP_READ, 0, data, ap->memaccess_tck); retval = adi_jtag_dp_scan_u32(ap->dap, JTAG_DP_APACC, reg, ...
a SWDP (2-pin) interface. The JTAG Debug Port (JTAG-DP) provides a 5-pin standard JTAG interface to the AHPAP port. The Serial Wire Debug Port (SW-DP) provides a 2-pin (clock + data) interface to the AHP-AP port. In the SWJ-DP, the two JTAG pins of the SW-DP are multiple...
Also, I was looking at the different Access Ports (AP) in the JTAG-DP, and whenever I try to get information on AP 1, it seems to crash. I'm wondering if I need to enable a clock to that module, but I need to learn some more information about the different APs and which module...
CPU没有成功进入HALT模式。CPU进入HALT模式是通过SW-DP访问MEM-AP实现的