1、将JTAG仿真器的频率降下去 Program and Debug->Open hardware manager->Open Target->Open new target(先关掉之前的hardware) 其中JATAG Clock Frequency可以选择JTAG的频率。 2、将debug_hub的频率升上去 在setup debug中产生的ILA相关的XDC约束文件中最后一段,把connect _debug_port dbg_hub/clk [get_nets ...
.sys_clk (jtag_clk ),//系统时钟,频率10MHz.sys_rst_n(sys_rst_n ),//复位信号,低电平有效.key_in(pi_key ),//按键输入信号.key_flag(po_key )//消抖后信号); jtag_pl #( .BIT_SIZE (BIT_SIZE +100)//BIT文件大小) u_jtag_pl ( .clk_in ( jtag_clk ),.ila_clk( ila_clk ),.rst...
给系统上电后,可通过示波器查看 S3C4510B 对应引脚的输出波形,判断是否已正常工作,若S3C4510B 已正常工作,在使能片内 PLL 电路的情况下, SDCLK/MCLKO 引脚( Pin77 )应输出频率为 50MHz 的波形,同时, MDC 引脚( Pin50 )和其他一些引脚也应有波形输出。 在保证 S3C4510B 已正常工作的情况下,可使用 ADS 或 SDT...
给系统上电后,可通过示波器查看S3C4510B 对应引脚的输出波形,判断是否已正常工作,若S3C4510B 已正常工作,在使能片内PLL 电路的情况下,SDCLK/MCLKO 引脚(Pin77 )应输出频率为50MHz 的波形,同时,MDC 引脚(Pin50 )和其他一些引脚也应有波形输出。 在保证S3C4510B 已正常工作的情况下,可使用ADS 或SDT 通过JTAG 接口...
.sys_clk (clk_10M ), //系统时钟,频率50MHz .ila_clk (ila_clk) , .sys_rst_n (sys_rst_n ), //复位信号,低电平有效 .key ( flash_rd_en ), //读取开始信号 .miso (flash_tdo ), //读出flash数据 .sck (flash_sck ), //片选信号 ...
通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。14针JTAG接口定义：14针JTAG接口定义引脚名称描述 1、13VCC接电源 2、4、6、8、10、14GND接地 3nTRST测试系统复位信号 5TDI测试数据串行...
5、S3C4510B 对应引脚的输出波形,判断是否已正常工作,若S3C4510B 已正常工作,在使能片内 PLL 电路的情况下, SDCLK/MCLKO 引脚( Pin77 )应输出频率为 50MHz 的波形,同时, MDC 引脚( Pin50 )和其他一些引脚也应有波形输出。 在保证 S3C4510B 已正常工作的情况下,可使用 ADS 或 SDT 通过 JTAG 接口对片内的部...
SWDIO: Serial Wire Data Input Output。主机发送的时钟信号。由于处理器时钟和 SWD 时钟之间没有关系,频率选择由主机接口决定。 SWCLK: Serial Wire Clock。这是带有来自 / 送到 DP 的数据的双向信号。数据由主机在上升边缘期间设置,并在 SWDCLK 信号的下降边缘期间由 DP 采样。
JTAG使用说明 遵循JTAG的器件包含以下几个管脚 TCK测试时钟输入，它和系统时钟不同 TDI测试数据输入，通过它数据移位进入器件 TDO测试数据输出，通过它数据从器件移出 TMS测试模式选择，在JTAG规范中TMS命令选择测试模式 TRST测试复位输入，它为TAP控制器提供异步初始化 器件的测试支持功能是...
当前芯片所支持的最大TCK频率 定义了管脚的名称和序号 定义了电源、时钟、配置、IO管脚等等。每个管脚的类型,如VCC、GND、CLK,管脚的名称及序号 所有可用命令寄存器 所有可用的数据寄存器,包括可能的预设值,例如:器件的IDCODE BSDL目前有两种标准IEEE 1149.1和IEEE 1149.6。IEEE 1149.6在IEEE 1149.1标准的基础上丰富了...