内存访问端口 (MEM-AP): 此 AP 提供对核心内存和寄存器的访问。 JTAG接入端口(JTAG-AP): 此 AP 允许将 JTAG 链连接到 DAP。 调试 SWD 就只是用来调试(跟踪)的,因此它相对于 JTAG 简单不少,详细的调试协议在 《ARM® Debug Interface v5》的 The Serial Wire Debug Port (SW-DP) 这个章节有介绍。
1.写入DP SELECT寄存器,设置APSEL和APBANKSEL字段; 2.读取DP RDBUFF寄存器,以“提交”最后一个事务处理; 3.再次读取RDBUFF寄存器以读取其实际值。 SELECT寄存器在2.3.9章进行了描述,关键字段如下: 读取的一个有趣的AP寄存器是IDR寄存器(地址0xf),它包含这个AP的标识信息,下面是读取地址0x0处AP的IDR过程的代码。
运行中的程序也能对这些组件进行控制，并且所有的跟踪信息都可以通过TPIU进行访问。Zynq-7000 AP SoC提供了标准的JTAG（IEEE 111）调试接口，该接口不仅包含PS内部的ARM调试接口（DAP），还包含PL内部的标准JTAG测试接口（TAP）。其中，ARM DAP作为ARM CoreSight调试框架的重要组成部分，使得用户能够借助行业标准的第三方...
2.读取DP RDBUFF寄存器,以“提交”最后一个事务处理; 3.再次读取RDBUFF寄存器以读取其实际值。 SELECT寄存器在2.3.9章进行了描述,关键字段如下: 读取的一个有趣的AP寄存器是IDR寄存器(地址0xf),它包含这个AP的标识信息,下面是读取地址0x0处AP的IDR过程的代码。 对AP进行扫描 使用完全相同的代码,我们可以迭代整个...
当然这九个位包括不用的TAP的BYPASS位，但是现在操作想用DR来操作JTAG-DP出现问题，写入DP的CTRL/STAT...
串行线/ JTAG调试端口(SWJ-DP):该端口可以使用JTAG或SWD访问DAP,这是许多微处理器上常见的接口。它重用TMS和TCK JTAG信号,分别传输SWDIO和SWDCLK信号。为了从一个接口切换到另一个接口,必须发送特定的序列。 访问端口 可以根据需要将多个AP添加到DAP中,ARM提供了两个AP的规范: ...
The JTAG Debug Port (JTAG-DP) provides a 5-pin standard JTAG interface to the AHPAP port. The Serial Wire Debug Port (SW-DP) provides a 2-pin (clock + data) interface to the AHP-AP port. In the SWJ-DP, the two JTAG pins of the SW-DP are multiplexed with some of the five JT...
int retval = jtag_ap_q_bankselect(ap, reg);if (retval != ERROR_OK) return retval;return adi_jtag_scan_inout_check_u32(ap->dap, JTAG_DP_APACC, reg, DPAP_READ, 0, data, ap->memaccess_tck); retval = adi_jtag_dp_scan_u32(ap->dap, JTAG_DP_APACC, reg, ...
Also, I was looking at the different Access Ports (AP) in the JTAG-DP, and whenever I try to get information on AP 1, it seems to crash. I'm wondering if I need to enable a clock to that module, but I need to learn some more information about the different APs and which module...
CPU没有成功进入HALT模式。CPU进入HALT模式是通过SW-DP访问MEM-AP实现的