Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 较慢,6-12周审稿时间 4区中科院分区 Q4JCR分区 1.1影响因子 ISSN:0923-8174 E-ISSN:1573-0727 国际简称:J ELECTRON TEST 出版国家或地区:UNITED STATES 研究方向:工程:电子与电气 - 工程技术 是否预警:否 ...
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications Submission guidelines Instructions for Authors Types of Papers Letters The Letters section of JETTA publishes concise articles describing new ideas. Comments on published papers can also be submitted. Publication cycle for Letters is kept short although...
Testing of analog and digital electronic circuits;Testing of microprocessors, memories, and signal processing devices;Fault modeling;Test generation;Fault simulation;Testability analysis;Design for testability;Synthesis for testability;Built-in self-test;Test specification;Fault tolerance;Formal verification of ...
根据最新的数据,JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS在中科院分区中属于 大类学科 工程技术:4区;小类学科 工程电子与电气:4区;在JCR分区中属于Q4分区。 4、研究范围: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS是唯一专门研究电子测试的期刊,是一个传播该领域最新研究成果和应用的国际论坛。
2022年12月最新升级版 工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 4区 工程:电子与电气 否 否 2021年12月最新升级版 工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 4区 工程:电子与电气 否 否 2021年12月最新升级版 工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 4区 工程:电子与电气 否 ...
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期刊全称 journal of electronic testing-theory and applications 期刊简称 Print ISSN 0923-8174 Online ISSN 1573-0727 期刊出版社 是否开放获取 Open Access,OA 否 官网地址 期刊所属领域 期刊简介 JCR分区索引信息2021年数据 是否是SCIE(SCI) 注:SCI已经完全被SCIE取代,参考:SCI被取代 ...
期刊主页 journal of electronic testing-theory and applications主页 期刊评价 您选择的journal of electronic testing-theory and applications的指数解析如下: 简介:J ELECTRON TEST杂志属于工程技术行业,“工程:电子与电气”子行业的偏低级别杂志。投稿难度评价:影响因子偏低,但是接稿量不是很大,审稿周期偏长,但容易...
Reducing Scan Shifts Using Configurations of Compatible and Folding Scan Trees H. YOTSUYANAGI; T. KUCHII; S. NISHIKAWA; M. HASHIZUME; K. KINOSHITA 2005 2005, vol.21, no.6 Multiple-Constraint Driven System-on-Chip Test Time Optimization JULIEN POUGET; ERIK LARSSON; ZEBO PENG 2005 2005, vol...
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS J ELECTRON TEST 我要投此期刊 出版周期: Bimonthly 出版ISSN: 0923-8174 通讯方式: SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ 期刊主页网址: 在线投稿网址: 其他相关链接: Science Citation Index Expanded Current Contents - En...