JIS Z1702包装用聚乙烯薄膜厚度仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度 测量。 JIS Z1702包装用聚乙烯薄膜厚度仪主要技术特征: 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 测试...
根据JIS Z1702标准,测试包括在薄膜的多个位置进行精确测量,考察薄膜厚度的一致性。薄膜厚度不均匀可能导致包装性能的失败,因此,确保测试过程的精确性至关重要。 薄膜测厚仪 CHY-HS薄膜测厚仪:精确与可靠 济南三泉中石生产的CHY-HS薄膜测厚仪专为满足JIS Z1702标准对薄膜厚度测量的严格要求而设计。以下是CHY-HS薄膜...
本标准规定了包装用聚乙烯薄膜(以下简称薄膜)。この規格は,包装用を目的とするボリエチレンフィルム(以下,フィルムという。)について規定する。 包装用聚乙烯薄膜, Polyethylene films for packaging, ホウソウヨウポリエチレンフィルム, 提供JIS Z 1702:1994的发布时间
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JIS Z1702包装聚乙烯薄膜厚度仪 接触式薄膜厚度检测仪——Labthink C640测厚仪生产供应商:济南兰光机电技术有限公司 Labthink兰光品牌C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自...
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