JIS B0090-1-2001光学元件和系统图的绘制.第1部分:总则 JIS B0090-2-2001光学元件和系统图的绘制.第2部分:材料缺陷.应力双折射 JIS B0090-3-2001光学元件和系统图的绘制.第3部分:材料缺陷.起泡和杂质 JIS B0090-4-2001光学元件和系统图的绘制.第4部分:材料缺陷.不均匀和擦痕 JIS B0090-5-2001光学元件和...
JIS B 0090-5:2010 适用范围 JIS B 0090 系列标准规定了用于制造和检验的图纸中光学元件和系统的设计和功能要求的表示。本国际标准规定了表示表面轮廓公差的惯例。注:干涉测量术语用于公差规范,特别是用于指定公差的单位。然而,这并不意味着只有干涉测量方法才能用于光学元件的实际检测。如果将结果转换为此处指定的单...
JIS B0090-1-2001光学元件和系统图的绘制.第1部分:总则 JIS B0090-2-2001光学元件和系统图的绘制.第2部分:材料缺陷.应力双折射 JIS B0090-3-2001光学元件和系统图的绘制.第3部分:材料缺陷.起泡和杂质 JIS B0090-4-2001光学元件和系统图的绘制.第4部分:材料缺陷.不均匀和擦痕 JIS B0090-5-2001光学元件和...
JIS B 0090-11:2021 当前最新 JIS B 0090-11:2021 适用范围 JIS B 0090 规范规定了用于制造和检验的图纸中光学元件和系统的设计和功能要求的表示。本标准规定了未明确注明的允许偏差和材料缺陷。注:本标准对应的国际标准如下所示。根据ISO/IEC Guide 21,表示对应程度的符号有IDT(匹配)、MOD(修改)、NEQ(非等效...
第 1 部分:总则 JIS B0090-2-2001 光学元件和系统图的绘制 .第 2 部分:材料缺陷 .应力双折射 JIS B0090-3-2001 光学元件和系统图的绘制 .第 3 部分:材料缺陷 .起泡和杂质 JIS B0090-4-2001 光学元件和系统图的绘制 .第 4 部分:材料缺陷 .不均匀和擦痕 JIS B0090-5-2001 光学元件和系统图的绘制 ...
JISB0028-2000 技术制图.尺寸和公差表示.锥形 JISB0029-2000 技术制图.方向和位置的公差表示.突出公差带 JISB0031-2003 产品几何量技术规范(GPS).技术产品文献表面 结构标注方法 JISB0041-1999 技术绘图.中心孔简化图解 JISB0090-10-2001 光学元件和系统图的绘制.第 10 部分:表示透 镜元件数据的表 JISB0090-...
第 12 部分:非球型表面 JIS B0090-2-2001 光学元件和系统图的绘制.第 2 部分:材料缺陷.应力双折射 JIS B0090-3-2001 光学元件和系统图的绘制.第 3 部分:材料缺陷.起泡和杂质 JIS B0090-4-2001 光学元件和系统图的绘制.第 4 部分:材料缺陷.不均匀和擦痕 JIS B0090-5-2001 光学元件和系统图的绘制....
JIS B0090-2-2001光学元件和系统图的绘制.第2部分:材料缺陷.应力双折射 JIS B0090-3-2001光学元件和系统图的绘制.第3部分:材料缺陷.起泡和杂质 JIS B0090-4-2001光学元件和系统图的绘制.第4部分:材料缺陷.不均匀和擦痕 JIS B0090-5-2001光学元件和系统图的绘制.第5部分:表面形式公差 JIS B0090-6-2001光...
JIS B0090-172007 Preparation of drawings for.Part 17Laser.pdf 《JIS B0090-172007 Preparation of drawings for...Part 17Laser.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《JIS B0090-172007 Preparation of drawings for...Part 17Laser.pdf(6页珍藏版)》请在人人文库网上搜索。温馨提示: ...
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