jesd511将之定义为当半导体器件外壳与热沉良好接触以使其表面温度变化最小时热源到离芯片峰值区最近的外壳表面的热mil833标准中给出的传统热电偶测量方法要求确定结温tj壳温tc以及热耗散功率p指的是稳态热阻因为它是在稳态条件下得到的并且它取决于热流路径上的结壳温度差...