绿色表示标准:JEDEC JESD24-1-1989 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准; 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。 标准号 JEDEC JESD24-1-1989 发布 1989年 总页数 16页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版 功率器件关断开关损耗的测量方法 JEDEC JE...
JEDEC JESD24-4-1990(R2002) 2002年 总页数 8页 发布单位 / 购买 正式版 Bipolar Transistor Thermal Impedance Measurements (Delta Base-Emitter Voltage Method) 标准号:JESD24-4 该标准适用于双极晶体管的热阻测量,采用Δ基射电压法。通过此方法可以评估和比较不同双极晶体管在工作条件下的热性能。 ... ...
测量功率 MOSFET 漏源二极管反向恢复时间 trr 的测试方法 JEDEC JESD 24 附录 其他标准 JEDEC JESD24-11-1996 JESD24的补遗-功率MOSFET 等值系列栅极电阻测试T/CASAS 006-2020 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范 JEDEC JESD24-10-1994相似标准 ...
5.2.1. GTS JESD204C TX Reset Sequence Figure 9. GTS JESD204C TX Reset Sequence The descriptions below correspond to the GTS JESD204C TX Reset Sequence: The user logic asserts the GTS JESD204C IP and configuration reset to the GTS JESD204C IP TX, j204c_tx_avs_rst_n = 0, j204...
3.7.1. Integrating the F-Tile JESD204B IP in Platform Designer You can integrate the F-Tile JESD204B IP with other Platform Designer components within Platform Designer. You can connect standard interfaces like clock, reset, Avalon® memory-mapped, Avalon® streaming, and system PLL c...
本申请公开了一种基于JESD204B协议的加解扰方法,属于数据传输接口领域.所述方法包括:以大端模式排列的输入数据,按Byte反序所述输入数据,然后按bit位反序排列;以小端模式排列的输入数据,将所述输入数据按bit位反序排列;反序后的输入数据每个bit位的值做加扰运算,输出加扰运算结果作为解扰运算的输入数据做解扰运算;将...
JESD78DICLATCH-UPTEST
您也可以尝试购买此标准,点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。 标准号 JEDEC JESD24-7-1992 发布 1992年 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版 用于在功率晶体管反向恢复期间测量 DV/DT 的换向二极管安全工作区测试程序 JEDEC JESD 24 附录JEDEC JESD24-7-1992相似标准JEDEC...
国际标准分类中,jedec jesd24-3-1990涉及到。在中国标准分类中,jedec jesd24-3-1990涉及到半导体分立器件综合。(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于jedec jesd24-3-1990的标准JEDEC JESD24-3-1990 JESD24的补遗-垂直功率MOSFET的热阻测量 未注明发布机构,关于jedec jesd24-3-1990的标准...
功率器件关断开关损耗的测量方法 JEDEC JESD 24 附录Method for Measurement of Power Device Turn-Off Switching Loss Addendum to JEDEC JESD 24JESD24的补遗1-功率设备开关损耗的测量方法, Method for Mea