(正版) JESD 22-A108D-2010 . 下载积分: 1500 内容提示: JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22-A108D (Revision of JESD22-A108C, June 2005) NOVEMBER 2010 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION 文档格式:
22-A108D Page 4 Test Method A108D (Revision of Test Method A108C) 4.2 Stress conditions (cont’d) 4.2.3.2 High temperature operating life (HTOL) / Low temperature operating life (LTOL) The HTOL / LTOL test is configured to bias the operating nodes of the device samples. The devices ...
JESD22-A108D (RevisionofJESD22-A108C,June2005) NOVEMBER2010 JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATION NOTICE JEDECstandardsandpublicationscontainmaterialthathasbeenprepared,reviewed,and approvedthroughtheJEDECBoardofDirectorslevelandsubsequentlyreviewedandapproved bytheJEDEClegalcounsel. JEDECstandardsandpublicationsaredesigne...
JESD22-A102D无偏高压蒸煮这是一个采用压力湿度湿度条件的高加速试验在高压条件下加速湿气渗透到外外部保护物料塑封料或丝印或沿外保护物料与金属导电层之间界面渗入 A102D无偏压高压器-加速抗湿性试验 1.范围: 本测试方法主要用于耐湿性评估和强健性测试。样品放置于一个高压、高湿环境下,在压力下湿气进入封装,使...
JESD22 A102E高压蒸煮 周期 每个试验周期应包括以下步骤: a.将受试器件放置在试验腔体中,并保持稳定状态。 b.在规定的温度和相对湿度下,施加规定的蒸汽压力。 c.在试验周期结束时,将受试器件从试验腔体中移除,并在室温下存储至少4小时。 d.重复以上步骤,直到达到规定的试验时间。 5.评估 在试验结束后,应对受...
JEDEC JESD22-A108D-2010由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 2010。JEDEC JESD22-A108D-2010 温度、偏置和使用寿命的最新版本是哪一版?JEDEC JESD22-A108D-2010已经是当前最新版本。标准号 JEDEC JESD22-A108D-2010 发布 2010年 总页数 14页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版专题...
JEDEC JESD22-A108G-2022温度、偏置和工作寿命KS C IEC PAS 62161-2013 稳态温度湿度偏置寿命测试JEDEC JESD22-A108C-2005温度,偏差和操作寿命PAS 62161-2000 稳态温度湿度偏置寿命测试(1.0 版)JEDEC JESD22-A101D.01-2021 JESD22-A101D.01 均衡温度湿度偏置寿命测试方法 ...
1、范围该测试适用于评价、筛选、监测或鉴定试验所有固态器件。 高温存储测试经常用来判定在存储条件下时间与温度的影响 ,针对固体电子器件的热激活失 效机理与失效时间分布。测试器件,使用加速温度应力,不使用电气条件。该测试也许具有破坏性, 根据时间、温度与封装。 2、参考文档 JESD22-B101, External Visual JESD...
JEDEC JESD22-A108D-2010相似标准JEDEC JESD22-A108G-2022 温度、偏置和工作寿命 KS C IEC PAS 62161-2013 稳态温度湿度偏置寿命测试 JEDEC JESD22-A108C-2005 温度,偏差和操作寿命 PAS 62161-2000 稳态温度湿度偏置寿命测试(1.0 版) JEDEC JESD22-A101D.01-2021 JESD22-A101D.01 均衡温度湿度偏置寿命测试...