内容提示: JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119A (Revision of JESD22-A119, November 2004, Reaffirmed September 2009) OCTOBER 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020, 6:24 am PDTbyd ...
需要金币:*** 金币(10金币=人民币1元) JESD22-A119A低温存储寿命【LTSL】.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 免费在线预览全文 电子电气行业测试技术标准---JESD-A-119A低温存储试验 VIP免费下载 下载文档 收藏 分享赏 0 下载提示 ...
TESTMETHODA119A TEMPERATURESTORAGELIFE (FromJEDECBoard Ballot JCB-15-50, formulated under the cognizance of JC-14.1 Subcommittee on Reliability Test Methods for Packaged Devices.) 1 Scope The test is applicable for evaluation, screening, monitoring, and/or qualification of all solid state ...
什么是JESD22-A119A-2015低温储存试验箱呢?它在不加任何偏压情况下,由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力,此试验过程不施加偏压,试验结束后回到常温才能够进行电性测试;这款设备主要有什么作用呢? 一、测试范围:本试验法可同时适用于生热(heat-dissipating)及不生热(non heat -dissipating)试件; ...
asanalternativetoJESD22-A101orJESD22-A110. JESD22-A100C 发布:2007年10月 循环温湿度偏置寿命试验 循环温湿度偏置寿命试验以评估非气密封装固态器件在潮湿环境中的可靠性为目的。它使用循环温度,湿度,以及偏置条件来加速水汽对外部保护性材料(封装或密封)或沿着外部保护材料和贯通其的金属导体的界面的穿透作用。循...
JEDEC JESD22-A119A:2015 Low Temperature Storage Life(低温储存寿命 ) JEDEC JESD22-A120C:2022 Test Method for the Measurement of Moisture Diffusivity and Water Solubility in Organic Materials Used in Electronic Devices (电子设备用有机材料中水分扩散率和水溶性测量的试验方法) ...
完整英文电子版JEDEC JESD22-A119A:2015(R2021) Low Temperature Storage Life(低温储存寿命)。 本测试适用于所有固态设备的评估,筛选,监视和/或鉴定。低温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子设备(包括非易失性存储设备)的热激活故障机制(数据保留故障机制)的影响。 在测试过程中,在不施加电应力的...
购买 正式版 本试验适用于评估、筛选和监控所有固态设备的可靠性。低温存储测试通常用于确定在储存条件下时间与温度对热激活失效机制的影响,包括非易失性内存设备(数据保留失效机制)。此测试可能具有破坏性。 专题 JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)相似标准
JEDEC JESD22-A119A-2015相似标准JEDEC JESD22-A119A-2015(2021) 低温度存储寿命试验方法 JEDEC JESD22-A103D-2010 高温储存寿命 IEC PAS 62205:2000 高温储存寿命 JEDEC JESD22-A103E-2015 高温储存寿命 PAS 62205-2000 高温储存寿命(1.0版) 推荐低温样品储存,液氮冻存(一) 氮气作为空气的主要成分(78%,V/V...
内容提供方:xiaoqingtian 大小:3.51 MB 字数:约小于1千字 发布时间:2020-07-27发布于吉林 浏览人气:99 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 需要金币:*** 金币(10金币=人民币1元) JEDEC JESD22-A119A-2015 国外国际规范.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 ...