JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST - 完整英文电子版(9页).pdf,JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST JESD22-A118B.01 (Minor editorial revision of JESD22-A118B, Juliy 2015) MAY 2021 JEDEC S
JEDEC JESD22-A118B.01-2021的标准全文信息,通用闪存(UFS)卡扩展3.0版, Universal Flash Storage (UFS) Card Extension Version 3.0, 提供JEDEC JESD22-A118B.01-2021的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范
JEDEC JESD22-B118A-2021 2021年 总页数 20页 发布单位 / 适用范围 半导体晶圆和芯片背面外部视觉检验是用于检查经过加工的半导体晶圆或芯片的非活性表面(以下简称背侧)。此方法适用于在封装前的产品半导体晶圆和芯片。该测试方法定义了执行标准化的外部视觉检测的要求,可用于资格认证、质量监控及批量验收。
16 JESD22-A115 C Nov 2010 现行静电放电敏感性试验(ESD)机器模型(MM)停止使用设备ESD确认的机器模型 17 JESD22-A117 E Nov 2018 现行电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)编程/擦除耐久性以及数据保持试验 18 JESD22-A118 B.01 May 2021 现行加速水汽抵抗性——无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽) 19 ...
1B112A Oct 2021现行i高温封装翘曲度测试方法36.B113A Sep 2021现行手持电子产品组件互连可靠性特性的板级循环弯曲试验方法37.B114A May 2021现行标识可识别性38.B115A Aug 2021现行i焊球拉脱试验39.B116A Aug 2021现行引线键合的剪切试验40.1B117B May 2021现行焊球剪切41B118Mar 2021现行半导体晶圆以及芯片...
作为半导体相关的行业的从业者,或多或少会接触到JEDEC标准。标准对硬件系统的设计、应用、验证,调试等有着至关重要的作用。 JEDEC(全称为 Joint Electron Device Engineering Council)是一个电子元件工程标准制定组织,致力于为半导体行业制定、推广和维护工程标准。JEDEC 的标准涵盖了各种半导体器件,包括动态随机存取存储器...
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作为半导体相关的行业的从业者,或多或少会接触到JEDEC标准。标准对硬件系统的设计、应用、验证,调试等有着至关重要的作用。 JEDEC(全称为 Joint Electron Device Engineering Council)是一个电子元件工程标准制定组织,致力于为半导体行业制定、推广和维护工程标准。JEDEC 的标准涵盖了各种半导体器件,包括动态随机存取存储器...
16 JESD22-A115 C Nov 2010 现行静电放电敏感性试验(ESD)机器模型(MM)停止使用设备ESD确认的机器模型 17 JESD22-A117 E Nov 2018 现行电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)编程/擦除耐久性以及数据保持试验 18 JESD22-A118 B.01 May 2021 现行加速水汽抵抗性——无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽) 19 ...