JESD22-A108C_2005_Temperature,_Bias,_and_Operating_Life温度,偏压和使用寿命.pdf,JEDEC STANDARD Temperature, Bias, and Operating Life JESD22-A108C (Revision of JESD22-A108-B) JUNE 2005 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and pu
JESD22-A108C Page1 TestMethodA108C (Revision of Test Method A108-B) TEST METHOD A108C TEMPERATURE, BIAS, AND OPERATING LIFE (From JEDEC Board Ballots JCB-99-89, JCB-99-89A, and JCB-05-49, formulated under the cognizance of JC-14.1 Committee on Reliability Test Methods for Packaged Dev...
17.A117COct2011现行电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)编程/擦除耐久性以及数据保持试验 18.A118AMar2011现行加速水汽抵抗性——无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽) 19.A119Nov2004现行低温贮存寿命 20.A120AJan2008现行用于集成电路的有机材料的水汽扩散率以及水溶解度试验方法 ...
JEDECSTANDARDTemperatureBiasandOperatingLifeJESD-A108CRevisionofJESD-A108-BJUNE005JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATION
JEDEC STANDARD Temperature,Bias,andOperatingLife JESD22-A108C (RevisionofJESD22-A108-B) JUNE2005 JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATION NOTICE JEDECstandardsandpublicationscontainmaterialthathasbeenprepared,reviewed,and approvedthroughtheJEDECBoardofDirectorslevelandsubsequentlyreviewedandapproved bytheJEDEClegalcounsel...
JESD 22 A108G 老化最新标准 上传者:GD32MCU时间:2023-02-13 JESD22-A108C Temperature, bias and opeating life (HTOL).pdf JESD22-A108C 上传者:camel97时间:2021-08-24 JESD22-A108B英文中文参考 -寿命实验标准. JESD22-A108B英文中文参考 -寿命实验标准. ...
哪个前辈有JESD22-A113CJESD22-A108CJESD22-A101BJESD22-A103B,传一下,谢谢了! 也可以发到我的邮箱[email]wxs_shun@163.com[/email],谢谢!可靠性资料设备技术交流 车间规划参考,新建实验室可以参考下 2013-5-27 14:43:50 可靠性资料设备技术交流 EIA-364-53 硝酸气体腐蚀用什么测试设备 2013-5-27 17...
JESD22-B107D
点击打开全屏PDF预览 点击查看大图 标准号 JEDEC JESD22-A108C-2005 发布 2005年 总页数 14页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版 适用的寿命试验规范中应规定以下项目其他标准JEDEC JESD22-A108D-2010 温度、偏置和使用寿命 专题高温工作寿命 寿命 温度 高温 工作 寿命 温度 寿命 使用寿命 温度 ...
JEDEC JESD22-A108C-2005相似标准 JEDEC JESD22-A108G-2022温度、偏置和工作寿命KS C IEC PAS 62161:2002 稳恒温度.湿度偏差寿命试验KS C IEC PAS 62161-2002(2012) 稳态温湿度偏差寿命试验JEDEC JESD22-A108D-2010温度、偏置和使用寿命KS C IEC PAS 62161-2013 稳态温度湿度偏置寿命测试 ...