电子工程设计发展联合会议标准功率和温度循环控制JESD-A105D(ESD-A105C修订版,004年1月,011年1月再次确认)00年1月月JEDEC固态技术协会
JEDEC STANDARD Power and Temperature Cycling JESD22-A105D (Revision of JESD22-A105C, January 2004, Reaffirmed January 2011) JANUARY 2020 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
JEDECSTANDARDPowerandTemperatureCyclingJESD-A105DRevisionofJESD-A105CJanuary004ReaffirmedJanuary011JANUARY00JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATIONCopyrightSolidStateTechnologyAssociationProvidedbyAccurisunderlicensewithJEDECOrderNumber:0389374Soldto:CEPREI
JEDEC JESD22-A105D-2020的标准全文信息,本测试方法适用于在温度变化中需要开启和关闭电源的半导体器件,旨在评估设备在极端高低温环境下承受交替暴露的能力。该试验被视作破坏性测试,并用于设备鉴定。JEDEC 标准 A105D:功率与温度循环测试, POWER AND TEMPERATURE CYCLIN
A105 C Jan 2004 现行 上电温循 7. A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8. A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9. A108 D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 10. A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11. A110 D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽) 12. A111 A ...
JEDEC JESD22-A105D-2020已经是当前最新版本。 本测试方法适用于在温度变化中需要开启和关闭电源的半导体器件,旨在评估设备在极端高低温环境下承受交替暴露的能力。该试验被视作破坏性测试,并用于设备鉴定。 点击查看大图 标准号 JEDEC JESD22-A105D-2020
A105 C Jan 2004 现行 上电温循 7. A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8. A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9. A108 D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 10. A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11. A110 D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽) 12. A111 A ...
A105 C Jan 2004 现行 上电温循 7. A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8. A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9. A108 D Nov 2010 现行 温度,偏置电压,以及工作寿命 10. A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11. A110 D Nov 2010 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽) 12. A111 A ...