机械损伤,如塑封破裂、碎裂或破裂(如JESD22-B101中所定义)将被视为故障,前提是此类损伤不是由固定装置或搬运引起的,并且对特定应用中的塑封性能至关重要。 外观包装缺陷、铅表面处理退化或可焊性不被视为该应力的有效失效标准。 5、总结 采购文件中应规定以下细节︰ 电性测量、故障标准和规范 样本大小和失败次数(...
预览JEDEC JESD22-A103E-2015前三页 标准号 JEDEC JESD22-A103E-2015 发布 2015年 总页数 12页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版其他标准JEDEC JESD22-B100B-2003 物理尺寸 JEDEC JESD22-B102E-2007 可焊性 JEDEC JESD22-B108B-2010 表面贴装半导体器件的共面性测试 JEDEC JESD22-A10...
JESD22标准 Name Name Abbreviatio A100循环温湿度偏置寿CycledTemperature-Humidity-Bias 命 LifeTest A101稳态温湿度偏置寿命 STEADY-STATETEMPERATURE-HUMIDITYBIAS LIFETEST THB A102加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 ACCELERATEDMOISTURERESISTANCE-UNBIASED AUTOCLAVE A103高温贮存寿命 HIGHTEMPERATURESTORAGELIFE HTSL A104温度...
JESD22标准列表及简介(中英文)1 顺序号标准编号现行版本2标准状态标准项目 1.A100DJul2013现行循环温湿度偏置寿命 2.A101CMar2009现行稳态温湿度偏置寿命 3.A102DNov2010现行加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4.A103DDec2010现行高温贮存寿命 5.A104DMar2009现行温度循环 ...
标准号 JESD22-A103E.01-2021 2021年 总页数 12页 发布单位 / 购买 正式版 本测试适用于所有固态器件的评估、筛选、监测和/或资格认证。高温存储测试通常用于确定时间与温度在储存条件下对热激活失效机制及电子设备的时间-失败分布的影响,包括非易失性存储器(数据保留失效机制)。该测试可能具有破坏性,具体取决于...
序号 标准编号 现行版本 发布尔日期 标准状态 标准项目 1 JESD22-A100 E Nov 2020 现行 循环温湿度偏置寿命 2 JESD22-A101 D.01 Jan 2021 现行 稳态温湿度偏置寿命 3 JESD22-A102 E Jan 2021 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4 JESD22-A103 E.01 Jul 2021 现行 高温贮存寿命 ...
测试标准: JESD22-A103 环仪仪器 JESD22-A103高温储存试验箱 耐高温老化箱 价格说明 价格:商品在平台的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准。 特别提示:商品详情页中(含主图)以文字...
JESD22标准列表及简介(中英文) 1. A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2. A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4. A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 ...
JESD22标准 下载积分: 500 内容提示: Name Name AbbreviationA100 循环温湿度偏置寿命Cycled Temperature-Humidity-BiasLife Test A101 稳态温湿度偏置寿命STEADY-STATE TEMPERATURE-HUMIDITY BIAS LIFE TESTTHBA102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVEA103 高温贮存寿命HIGH ...
内容提示: JESD22 标准列表及简介(中英文) 1 顺序号 标准编号 现行版本2 标准状态 标准项目 1. A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2. A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4. A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 D ...