内容提示: JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave 加速抗潮湿高压锅试验 JESD22-A102E (Revision of JESD22-A102D, November 2010) 取代 JESD22-A102D,2010年 11 月 JULY 2015 2015年 年 7 月 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION 文档格式:PDF | 页数:7 | 浏览次数:432...
内容提示: JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave JESD22-A102E (Revision of JESD22-A102D, November 2010) JULY 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Solid State Technology AssociationProvided by IHS under license with JEDEC Licensee=Chongqing Institute of quality and ...
JEDEC JESD22-A102E-2015Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
金属粉尘爆炸浓度测试煤矿粉尘爆炸检测第三方检测机构 ￥1800.00 查看详情 拉铆螺母盐雾试验紧固件楔负载实验昆山紧固件检测机构 ￥1800.00 查看详情 配电房电力安全带预防性检测 电工绝缘手套绝缘鞋到期检测 ￥200.00 查看详情 电缆导体电阻测试 电线电缆耐压试验昆山第三方检测机构 ￥1800.00 查看详情 工厂绝缘垫预防性检测...
JESD22A102E高压蒸煮试验1. 范围本方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性。温度湿度 偏压条件应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料 塑封料或封口,或沿着 外部保护材料与金属传导材料之间界面进行渗透。2. 设备本试
JESD22-A102E 电子元件高压蒸煮检测是一种针对电子元件的可靠性测试方法,可以评估电子元件在高压环境下的耐久性和稳定性。该测试方法通常用于航空、航天、军事和工业电子领域,以确保电子元件在极端条件下的可靠性和安全性。 在进行 JESD22-A102E 电子元件高压蒸煮检测时,需要将电子元件放入高压釜中,并将其暴露于高温...
TESTMETHODA102E ACCELERATEDMOISTURERESISTANCE-UNBIASED AUTOCLAVE (From JEDEC Board Ballots JCB-00-55, JCB-01-62, and JCB-15-27, formulated under the cognizance of the JC-14.1 Subcommittee on Reliability Test Methods for Packaged Devices.)
JESD22 A102E高压蒸煮.doc,JESD22-A102-E 高压蒸煮试验 范围 本方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性。温度/湿度/偏压条件应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料(塑封料或封口),或沿着外部保护材料与金属传导材料之间界面进行渗透。 设备 本试验要求一
JEDEC JESD22-A101D.01:2021 Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test(稳态温度-湿度偏差寿命测试) JEDEC JESD22-A102E:2015(R2021) Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave (加速的耐湿性-无偏高压灭菌器) JEDEC JESD22-A103E.01:2021 High Temperature Storage Life(高温储存寿命) ...
JESD22标准列表序号标准编号现行版本发布日期标准状态标准项目 1 JESD22-A100 E Nov 2020 现行循环温湿度偏置寿命 2 JESD22-A101 D.01 Jan 2021 现行稳态温湿度偏置寿命 3 JESD22-A102 E Jan 2021 现行加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4 JESD22-A103 E.01 Jul 2021 现行高温贮存寿命 5 JESD22-A104 F Nov ...