内容提示: JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave 加速抗潮湿高压锅试验 JESD22-A102E (Revision of JESD22-A102D, November 2010) 取代 JESD22-A102D,2010年 11 月 JULY 2015 2015年 年 7 月 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION 文档格式:PDF | 页数:7 | 浏览次数:432...
TESTMETHODA102E ACCELERATEDMOISTURERESISTANCE-UNBIASED AUTOCLAVE (From JEDEC Board Ballots JCB-00-55, JCB-01-62, and JCB-15-27, formulated under the cognizance of the JC-14.1 Subcommittee on Reliability Test Methods for Packaged Devices.)
JESD22 A102E高压蒸煮JESD22-A102-E高压蒸煮试验 1.范围 本方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性。温度/湿度/偏压条件应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料(塑封料或封口),或沿着外部保护材料与金属传导材料之间界面进行渗透。 2.设备 本试验要求一个压力箱,能够维持规定的温度和相对湿度。 2.1...
JESD22A102E高压蒸煮试验1. 范围本方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性。温度湿度 偏压条件应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料 塑封料或封口,或沿着 外部保护材料与金属传导材料之间界面进行渗透。2. 设备本试
JESD22 A102E高压蒸煮.doc,JESD22-A102-E 高压蒸煮试验 范围 本方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性。温度/湿度/偏压条件应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料(塑封料或封口),或沿着外部保护材料与金属传导材料之间界面进行渗透。 设备 本试验要求一
内容提示: JEDEC STANDARD Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave JESD22-A102E (Revision of JESD22-A102D, November 2010) JULY 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Solid State Technology AssociationProvided by IHS under license with JEDEC Licensee=Chongqing Institute of quality and ...
JESD22 A102E高压蒸煮JESD22 A102E高压蒸煮 周期 每个试验周期应包括以下步骤: a.将受试器件放置在试验腔体中,并保持稳定状态。 b.在规定的温度和相对湿度下,施加规定的蒸汽压力。 c.在试验周期结束时,将受试器件从试验腔体中移除,并在室温下存储至少4小时。 d.重复以上步骤,直到达到规定的试验时间。 5.评估 ...
JESD22-A102E 电子元件高压蒸煮检测是一种针对电子元件的可靠性测试方法,可以评估电子元件在高压环境下的耐久性和稳定性。该测试方法通常用于航空、航天、军事和工业电子领域,以确保电子元件在极端条件下的可靠性和安全性。 在进行 JESD22-A102E 电子元件高压蒸煮检测时,需要将电子元件放入高压釜中,并将其暴露于高温...
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