最后附上JESD22-A101-D(Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test)标准下载地址如下(下载时需要在JEDEC官网注册下也很方便): https://www.jedec.org/standards-documents/docs/jesd-22-a101c
JESD22标准列表及简介(中英文)1 顺序号标准编号现行版本2标准状态标准项目 1.A100DJul2013现行循环温湿度偏置寿命 2.A101CMar2009现行稳态温湿度偏置寿命 3.A102DNov2010现行加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4.A103DDec2010现行高温贮存寿命 5.A104DMar2009现行温度循环 ...
执行试验标准: GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热 IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热 JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命 JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命) JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透) JE...
相关实验标准：GB/T2423.40、IEC60068-2-66、IEC 60749-4、IEC62506、JESD22-A102E、JESD22-A110E、JESD22-A118B、JEITA ED-4701/100A、AEC-Q100-Rev-H 技术参数：试验要求说明：JESD22-A101-C: 稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）试验条件包括：温度、相对湿度和元件加偏压的时间。常用测试...
相关实验标准: GB/T2423.40、IEC60068-2-66、IEC 60749-4、IEC62506、JESD22-A102E、JESD22-A110E、JESD22-A118B、JEITA ED-4701/100A、AEC-Q100-Rev-H 技术参数: 试验要求说明: 1.JESD22-A101-C:稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命) 试验条件包括:温度,相对湿度,和元件加偏压的时间 常用测试...
A101C稳态温度、湿度/偏压、寿命试验 1.范围: 本测试方法用于评估非气密性封装IC器件在湿度环境下的可靠性.温度/湿度/偏压条件应用于加速湿气的渗透,可通过外部保护材料(塑封料或封口),或在外部保护材料与金属传导材料之间界面. 2.设备 本测试要求一个温湿测试炉,能够维持一个规定的温度和相关的持续湿度,同时在...
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JESD22标准 Name Name Abbreviatio A100循环温湿度偏置寿CycledTemperature-Humidity-Bias 命 LifeTest A101稳态温湿度偏置寿命 STEADY-STATETEMPERATURE-HUMIDITYBIAS LIFETEST THB A102加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 ACCELERATEDMOISTURERESISTANCE-UNBIASED AUTOCLAVE A103高温贮存寿命 HIGHTEMPERATURESTORAGELIFE HTSL A104温度...
JESD22标准 下载积分: 500 内容提示: Name Name AbbreviationA100 循环温湿度偏置寿命Cycled Temperature-Humidity-BiasLife Test A101 稳态温湿度偏置寿命STEADY-STATE TEMPERATURE-HUMIDITY BIAS LIFE TESTTHBA102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE - UNBIASED AUTOCLAVEA103 高温贮存寿命HIGH ...
根据国际半导体标准化组织(JEDEC)的要求,半导体设计和制造企业可以自行评估旗下产品的可靠性,偏压高温高湿试验则是其中一项重要试验项目,偏压高温高湿试模拟了“85/85”稳态湿度寿命试验(JESD22-A101)的失效机理,即在让元件长时间承受电气性stress高温(85℃)、高湿(85%RH)环境条件,至少运行1000h,评估元件的电力和机...