JEDECSTANDARDSteady-StateTemperature-HumidityBiasLifeTest稳态温湿度偏置寿命JESD-A101DRevisionofJESD-A101CMarch009JULY015JEDECSOLIDSTATETECHNOLOGYASSOCIATION
JESD22标准清单_原创精品文档.pdf,JESD22标准清单--第1页 JESD22 标准列表及简介(中英文)1 顺序号 标准编号 现行版本2 标准状态 标准项目 1. A100 D Jul 2013 现行 循环温湿度偏置寿命 2. A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗
循环温湿度偏置寿命试验通常用于腔体封装(例如MQIADs,有盖陶瓷引脚阵列封装等),作为JESD22-A101或JESD22-A110的替代试验。 2.A100循环温湿度偏置寿命 JESD22-A101-B Published:Apr-1997 STEADY-STATETEMPERATUREHUMIDITYBIASLIFETEST: Thisstandardestablishesadefinedmethodandconditionsforperformingatemperaturehumiditylifetest...
A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 3. A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4. A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 5. A104 D Mar 2009 现行 温度循环 6. A105 C Jan 2004 现行 上电温循 7. A106 B Jun 2004 现行 热冲击 8. A107 C Apr 2013 现行 盐雾 9. A108 D ...
2.A101CMar2009现行稳态温湿度偏置寿命 3.A102DNov2010现行加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 4.A103DDec2010现行高温贮存寿命 5.A104DMar2009现行温度循环 6.A105CJan2004现行上电温循 7.A106BJun2004现行热冲击 8.A107CApr2013现行盐雾 9.A108DNov2010现行温度,偏置电压,以及工作寿命 ...
JESD22-A101 JESD22-A104 JESD22-A102 JESD22-A118 Ta=85℃, 85%RH Ta=-65℃ ~ 150℃ TCT PCT Ta=121℃,100%RH,2ATM 168 hours Ta=130℃, 85%RH 96 hours uHAST NOTE: 1. Preconditioning MSL-3 test was done before HTST, THT, TCT, PCT and uHAST tests. 2. All ass...
1、JESD22标准列表及简介(中英文) 英文部分是从JEDEC.org网站获取,中文部分为自己翻译,不保证中文译稿翻译的准确和完整性。因此,请批判性的使用本文档。顺序号标准编号现行版本 最后一次检查标准版本是在2014-6-20标准状态标准项目1.A100D Jul 2013现行循环温湿度偏置寿命2.A101C Mar 2009现行稳态温湿度偏置寿命3...
A101 C Mar 2009 现行 稳态温湿度偏置寿命 A102 D Nov 2010 现行 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 A103 D Dec 2010 现行 高温贮存寿命 A104 D Mar 2009 现行 温度循环 A105 C Jan 2004 现行 上电温循 A106 B Jun 2004 现行 热冲击 A107 C Apr 2013 ...
作为半导体相关的行业的从业者,或多或少会接触到JEDEC标准。标准对硬件系统的设计、应用、验证,调试等有着至关重要的作用。 JEDEC(全称为 Joint Electron Device Engineering Council)是一个电子元件工程标准制定组织,致力于为半导体行业制定、推广和维护工程标准。JEDEC 的标准涵盖了各种半导体器件,包括动态随机存取存储器...
JESD22-A101C [Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test] JESD22-A101C [Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test] 上传者:choihb时间:2015-05-13 JESD22-A100D循环温度-湿度-偏压寿命测试 JESD22-A100D循环温度-湿度-偏压寿命测试 ...