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3、参赛设备依托分析测试中心及学校相关设备,其中含4台JEOL日本电子电子显微镜、EDS、EBSD及原子力显微镜具体如下: (a)JEOL场发射透射电子显微镜2100F; (b)JEOL场发射扫描电子显微镜7800F; (c)JEOL场发射扫描电子显微镜7100F; (d)JEOL钨灯...
日本JEOL(捷欧路)是领军世界的制造商,产品有电子显微镜(扫描电镜和透射电镜)、电子束光刻设备、缺陷检查和检测工具以及包括质谱仪、核磁共振波谱仪、电子自旋共振波谱仪在内的各种分析装置。 JEOL扫描电子显微镜:JSM-7800FPRIME、JSM-7800F、JSM-7610F、JSM-7500F、JSM-7100F、JSM-IT300、JSM-6010PLUS/LA InTouchSc...
• Application of Atomic-Resolution Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy to the Study of Structures of Decagonal Quasicrystals • Dressing Living Organisms in the NanoSuit® for FE-SEM Observation; Serial Block Face Scanning Electron Microscopy Using the JEOL JSM-7100F with Gatan 3View 2XP at...
IB-19520CCP 截面样品制备装置IB-19520CCP在加工过程中利用液氮冷却,能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下,也能将样品快速冷却、恢复到室温,并且可以拆卸。配有传送机构,在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。 进程监控功能截面加工状态可通过CCD相机...
· SEM : JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F 产品特点: ·软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率...
JIB-4700F、IB-19530CP、JES-X3 相关产品介绍: 质谱是分析领域增长很快的领域之一。JEOL为许多应用提供质谱仪已有50多年的历史了。该仪器可用于简单的日常任务以及极为苛刻的分析。在开发这些设备时,要特别注意坚固性和技术的使用。 特征: -适用于质谱新特殊应用的离子源 -坚固可靠的质谱仪,可用于苛刻的任务或常规...
Observation of nano-structures The unique high power optics of JSM-7100F guarantees 1.2nm resolution. High magnification for the study of nano-structures is easily obtained. Stable high precision analysis The in-lens thermal FEG produces a stable large probe current. You can obtain high quality ob...
JEOL JSM-7100F Observation of nano-structuresThe unique high power optics of JSM-7100F guarantees 1.2nm resolution. High magnification for the study of nanostructures is easily obtained. Stable high precision analysisThe in-lens thermal FEG produces a stable large probe current. You can obtain ...
型号 JEM-ACE200F 加工定制 否 品牌 jeol 产地 日本 JEM-ACE200F 高效分析型电子显微镜JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。 装置主体● 可配置Cs校正...