JEDEC JESD402-1:2020 Temperature Grade and Measurement Specifications for Components and Modules (组件和模块的温度等级和测量规范) JEDEC JESD671D:2018 Device Quality Problem Analysis and Corrective Action Resolution Methodology(设备质量问题分析和纠正措施解决方法) JEDEC PS-005A:2020 DDR5 288 Pin U/R/L...
JEDEC JESD402-1:2020 Temperature Grade and Measurement Specifications for Components and Modules (组件和模块的温度等级和测量规范) JEDEC JESD671D:2018 Device Quality Problem Analysis and Corrective Action Resolution Methodology(设备质量问题分析和纠正措施解决方法) JEDEC PS-005A:2020 DDR5 288 Pin U/R/L...
JEDEC JESD402-1A-2022相似标准 GB/T 40430-2021 道路车辆 基于控制器局域网的诊断通信 符号集GB/T 21548-2008 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法YD/T 1687.2-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件第2部分:2.5Gbit/s无致冷型直接调制半导体激光器组件DB13/T 2584-2017 无螺栓连接型梳形板式桥梁...
JEDEC JESD402-1A-2022JEDEC JESD402-1A-2022 JEDEC JESD8-21C-2019JEDEC JESD8-21C-2019 JEDEC JESD22-A117E-2018JEDEC JESD22-A117E-2018 JEDEC JESD79-4B-2017JEDEC JESD79-4B-2017 JEDEC JESD22-A111B-2018JEDEC JESD22-A111B-2018 EIA JEDEC JESD51-1995EIA JEDEC JESD51-1995 ...
1. JEDEC标准: JEDEC JESD22可靠性测试标准集(包含全部38份最新英文电子版标准文件) - 20220210.rar JEDEC JESD22-A100E:2020 Cycled Temperature-Humidity-Bias with Surface Condensation Life Test (循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试 ) JEDEC JESD22-A101D.01:2021 Steady-State Temperature-Humidity Bias ...
JEDEC JS-001-2010 静电放电灵敏度测试人体模型(HBM) 组件级 [已取代:JEDEC JESD22-A114F、JEDEC JESD22-A114E、JEDEC JESD22-A114D、JEDEC JESD22-A114C.01、JEDEC JESD22-A114C、JEDEC JESD22-A114-B、杰德克 JESD22-A114-A, 杰德克 JESD JEDEC EIA-308-A-1981 JEDEC类型注册 JEDEC JESD209-2007 低...
JEDEC JESD51-14-2010单通道热流半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试方法 AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc.,关于jedec51-14的标准 NAS1151-1158-1996Rev 14 (Rev. 14) NAS1081-2005Rev 14 (Rev. 14; FSC 5305) CZ-CSN,关于jedec51-14的标准 ...
本专题涉及jedec jesd202的标准有193条。国际标准分类中,jedec jesd202涉及到电气工程综合、半导体分立器件。在中国标准分类中,jedec jesd202涉及到基础标准和通用方法、标准化、质量管理、半导体分立器件综合。(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于jedec jesd202的标准...