JEDEC 22a119 低温存储 JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119 NOVEMBER 2004 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION
内容提示: JEDEC STANDARD Low Temperature Storage Life JESD22-A119A (Revision of JESD22-A119, November 2004, Reaffirmed September 2009) OCTOBER 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020, 6:24 am PDTbyd ...
JESD22-A110:有偏压的HAST高度加速寿命试验,让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速器件腐蚀。 JESD22-A118:无偏压高速加速寿命试验,评估非气密性封装元件在无偏压条件下抗潮湿能力。 JESD22-A119:低温存储寿命试验,在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力。 JESD22-A...
JESD22-A110:有偏压的HAST高度加速寿命试验,让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,以加速器件腐蚀。 JESD22-A118:无偏压高速加速寿命试验,评估非气密性封装元件在无偏压条件下抗潮湿能力。 JESD22-A119:低温存储寿命试验,在不加任何偏压情况下,借由模拟低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力。 JESD22-A...
18 JESD22-A118 B.01 May 2021 现行 加速水汽抵抗性——无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽) 19 JESD22-A119 A Oct 2015 现行 低温贮存寿命 20 JESD22-A120 B Jul 2014 现行 用于集成电路的有机材料的水汽扩散率以及水溶解度试验方法 21 JESD22-A121 A Jul 2008 现行 锡及锡合金表面镀层晶须生长的测...
JESD22标准的意义 确保产品可靠性:JESD22 标准旨在确保半导体器件在各种环境和应力条件下都能够保持可靠性。通过定义一系列的测试方法和标准流程,制造商和设计者能够评估其产品在不同条件下的性能表现。 提高产品质量:标准化的测试方法有助于提高产品质量,减少缺陷和故障的可能性。制造商可以依据 JESD22 标准来进行可靠...
JEDEC JESD22-A119-2004由(美国)固态技术协会,隶属EIA US-JEDEC 发布于 2004。 JEDEC JESD22-A119-2004 在中国标准分类中归属于: L72 数据元表示方法。 JEDEC JESD22-A119-2004 低温储存的最新版本是哪一版? JEDEC JESD22-A119-2004已经是当前最新版本。
JEDEC JESD22-A119-2004 中可能用到的仪器设备低温恒温器 自动化低温存储系统 专题高低温储存 家电低温存储 低温 存储 低温存储 高温储存 低温储存箱 低温 储存 箱 低温 储存箱 低温 储存 低温储存 标准 低温储存 存储温度 JEDEC JESD22-A119-2004相似标准...
JESD22-A119 低温存储寿命试验 说明: 在不加任何偏压情况下,藉由仿真低温环境评定产品于长时间承受与对抗低温的能力,此试验过程不施加偏压,试验结束后回到常温才能够进行电性测试。 适用设备:TON系列产品 JEDEC JESD22-A122功率循环测试 说明: 提供固态组件封装功率循环测试标准与方法,透过偏压的开关周期会造成封装体内...
JESD22-A101.01 稳态温湿度偏置寿命测试 说明: 本标准规定了在施加偏压的条件下进行温度-湿度寿命测试的定义方法和条件,该测试用来评估潮湿环境中非气密包装的固态设备可靠性(如:密封IC器件),采用高温和高湿条件以加速水分通过外部的保护材料(密封剂或密封),或沿着外部保护涂层与导体与其他穿过部件之间的界面渗透。