JEDEC JESD22-B107D：2011 Mark Permanency（标记永久性）JEDEC JESD22-B108B：2010 Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices（ 表面贴装半导体器件的共面性测试 ）JEDEC JESD22-B109C：2021 Flip Chip Tensile Pull（倒装芯片拉伸强度）JEDEC JESD22-B110B.01：2019 Mechanical Shock – Device and...
JESD22-A110-B:(Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)高加速温度和湿度应力试验(HAST)(1999年版) JESD22-A110D:(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST))高加速温度和湿度应力试验(HAST)(2010年版) JESD22-A111A:(Evaluation Procedure for Determining Capability...
JEDEC JESD22-B103B.01:2016 Vibration, Variable Frequency(振动,变频) JEDEC JESD22-B105E:2018 Lead Integrity(引线完整性) JEDEC JESD22-B106E:2016Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices (通孔安装器件的抗焊接冲击性 ) JEDEC JESD22-B107D:2011 Mark Permanency(标记永久性) JEDEC...
JEDEC JESD22-B106E:2016Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices (通孔安装器件的抗焊接冲击性 ) JEDEC JESD22-B107D:2011 Mark Permanency(标记永久性) JEDEC JESD22-B108B:2010 Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices( 表面贴装半导体器件的共面性测试 ) JEDEC JESD22-...
JESD22-A110E-2015有偏压的HAST高度加速寿命试验 依据JESD22-A110规范，THB和BHAST都是进行元器件高温高湿的试验，而且试验过程需要施加偏压，目的是加速元器件腐蚀，而BHAST与THB的差别在于可以有效的缩短原本进行THB试验所需的试验时间推荐设备：高度加速寿命试验箱 JESD22A113I塑料表面贴装器件的可靠性测试之前的预...
Note:如下截图所示,该标准可以用JESD22-A101或者JESD22-A110代替使用。且大多数情况下,偏向于使用"JESD22-A110(高加速温湿度应力测试)或者JESD22-A101(稳态温湿度寿命测试)。 2:测试条件: 下面放了两张图,第一张图是旧版A100C版本,第二张截图是A100D最新版本,为啥放两张,是因为如果只看A100D最新版的图,会不...
JESD22-A110D：高加速温度和湿度应力试验（HAST）（2010年版）以上标准涵盖了不同温度、湿度、应力下的测试方法，用于评估电子元件的耐用性和可靠性。此外，JEDEC还发布了针对非密封表面贴装装置预处理、可焊性、振动、机械冲击、引线完整性、耐焊接温度、标记永久性、共面性、倒装芯片拉力、组件机械冲击、...
JESD22-A110E-2015有偏压的HAST高度加速寿命试验 依据JESD22-A110规范,THB和BHAST都是进行元器件高温高湿的试验,而且试验过程需要施加偏压,目的是加速元器件腐蚀,而BHAST与THB的差别在于可以有效的缩短原本进行THB试验所需的试验时间 推荐设备:高度加速寿命试验箱 ...
10 JESD22-A109 B Nov 2011 现行,指向军标 密封 11 JESD22-A110 E.01 May 2021 现行 高加速温湿度应力试验(HAST)(有偏置电压未饱和高压蒸汽) 12 JESD22-A111 B Mar 2018 现行 安装在单面板底面的小型表贴固态器件耐浸焊能力的评价流程 13 JESD22-A112 A Nov 1995 被替代 塑封表贴器件水汽诱发的应力敏...
JESD22-A110E-2015有偏压的HAST高度加速寿命试验 依据JESD22-A110规范,THB和BHAST都是进行元器件高温高湿的试验,而且试验过程需要施加偏压,目的是加速元器件腐蚀,而BHAST与THB的差别在于可以有效的缩短原本进行THB试验所需的试验时间 推荐设备:高度加速寿命试验箱 ...