作为大功率变流器的关键单元,绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的高可靠性是系统稳定运行的重要保证,准确的寿命评估是提高系统可靠性的有效手段之一.然而,目前器件寿命评估多忽略焊料层疲劳造成的热阻,热载荷增大效应,易高估器件寿命.针对该问题,该文提出计及焊料层疲劳累积效应的IGBT模块寿命评估...
insulated gate bipolar transistor (IGBT) is 效手段之一。然而,目前器件寿命评估多忽略焊料层疲劳造 important to the stability of power electronic systems. 成的热阻、热载荷增大效应,易高估器件寿命。针对该问题, Improving the accuracy of lifetime prediction model is an 该文提出计及焊料层疲劳累积效应的 ...