期刊名称 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 期刊简称 IEEE ELECTR DEVICE L 期刊ISSN 0741-3106 期刊官网 http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=55 是否OA 否 出版商 Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 出版周期 Monthly ...
Ieee Electron Device Letters创刊于1980年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,收稿方向涵盖工程技术 - 工程:电子与电气全领域,此刊是该细分领域中属于非常不错的SCI期刊,在行业细分领域中学术影响力较大,专业度认可很高,所以对原创文章要求创新性较高,如果您的文章质量很高,可以尝试...
期刊全名 ieee electron device letters 期刊简称 IEEE ELECTR DEVICE L 期刊出版周期 Monthly 期刊出版社/管理机构 杂志由 IEEE 出版或管理。 ISSN号:0741-3106 期刊主页 ieee electron device letters主页 期刊评价 您选择的ieee electron device letters的指数解析如下: 简介:IEEE ELECTR DEVICE L杂志属于工程技术行...
Med. Biol. Electron Device Letters, IEEE IEEE Electron Device Lett. Electron Devices Society, Journal of IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices, IEEE Transactions on IEEE Trans. Electron Devices Electronics Packaging Manufacturing, IEEE Transactions on IEEE Trans. Electron. Packag. Manuf. (...
《IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS》——工程技术-工程:电子与电气领域学术期刊,是本由英国工程技术学会(IET)于1980年创办的半月刊,现由Wiley出版。期刊主编为来自英国伦敦帝国理工学院的Chris Toumazou教授和英国巴斯大学的Ian White教授。 ISSN:0741-3106 01 影响因子 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS影响因子近年来持续上升...
期刊ISSN 0741-3106 刊名 IEEE Electron Device Letters 参考译名 IEEE电子器件快报 收藏年代 1998～2007全部1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2005, vol.26, no.1 2005, vol.26, no.10 2005, vol.26, no.11 2005, vol.26, no.12 2005, vol.26, no.2 2005, vol.26, no.3...
IEEE Electron Device Letters,ISSN:0741-3106,由出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以月刊的形式出版发行。 IEEE Electron Device Letters官网: ieeexplore.ieee.org/xpl 收稿范围 期刊IEEE Electron Device Letters重点发表工程技术-工程:电子与电气相关方向的文章。 期刊出版了与电子和离子集成...
IEEE期刊缩写 1 IEEE Abbreviations for Transactions, Journals, Letters NOTE: * denotes past acronyms/abbreviations of journals (used for pre-1988 publications).Publication Acronym Reference Abbreviation IEEE T RANSACTIONS ON A DVANCED P ACKAGING ADVP IEEE Trans. Adv. Packag.CPMTB * IEEE Trans. ...
IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects, involving insulators, metals, organic ma