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交叉引用:IEC/TS 62396-1 JESD89A:2006 ASTM F1192-00 JESD57:1996 JEDEC 13.4 Cross References: IEC/TS 62396-1 JESD89A:2006 ASTM F1192-00 JESD57:1996 JEDEC 13.4航空电子设备的流
如在航空领域IEC 62396《航空电子设备过程管理-大气辐射效应》详细论述了大气中子诱发单粒子效应对元器件、设备、系统的影响和应对策略,并且大气中子单粒子效应也纳入了DO254的基础程序与认证方法的重点考虑因素。在地面交通领域,ISO26262将α粒子和大气中子诱发集成电路软错误作为系统安全的重要基础数据来源。......