IEC 62321-4-2013 电工产品中某些物质的测定 第4部分 由CV-AFS CV-AAS 电感耦合等离子体ICP-OES和电感耦合等离子体ICP- ms法测定汞在聚合 星级: 56 页 废弃化学品中镉的测定+第5部分:电感耦合等离子体发射光谱法 星级: 10 页 IEC 62321-2-2013 电工制品中特定物质的测定.第2部分 分解、解体机械样品...
IEC62321-5：2013 IEC62321:2013-5电工产品中相关物质的测定-第5部分 使用AAS，AFS，ICP-OES和ICP-MS，分别测定聚合物和电子产品中镉，铅，铬的含量以及金属中镉和铅的含量Cadmium,leadandchromiuminpolymersandelectronicsandcadmiumandleadinmetalsbyAAS,AFS,ICP-OESandICP-MS 适用范围 本部分介绍了通过使用仪器AAS...
3 p. ASTM D2415-20 3 p. ASTM D2319 D2319M-20 3 p. ASTM D3860-98(2020) 8 p. ASTM D3829-20 5 p. ASTM D3731-20 8 p. ASTM D3278-20 12 p. ASTM D4683-20 4 p. ASTM D3941-20 270 p. What Engineers and Managers Need to Know About Human Factors 关于...
IEC62321-5：IEC62321:2023-5电工产品中有关物质旳测定-第5部分 使用AAS，AFS，ICP-OES和ICP-MS，分别测定聚合物和电子产品中镉，铅，铬旳含量以及金属中镉和铅旳含量Cadmium,leadandchromiuminpolymersandelectronicsandcadmiumandleadinmetalsbyAAS,AFS,ICP-OESandICP-MS 合用范围 本部分简介了经过使用仪器AAS（...
【英/法语版】国际标准 IEC 62321-5:2013 EN-FR 电气产品中某些物质的测定——第5部分:聚合物、电子元件中的镉、铅和铬,金属中的镉、铅、铬的测定——原子吸收光谱法、原子荧光光谱法、等离子体发射光谱法、等离子体发射质谱法 Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 5: ...
内容提示: IEC 62321-5 Edition 1.0 2013-06 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Determination of certain substances in electrotechnical products – Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS Détermination de...
IEC62321-5的第一个版本是IEC 62321:2008的部分代替,形成了一个结构化修订,逐步的代替了条款8到10,以及附录F,G和H。 在IEC 62321系列中的未来部分将逐步地代替来自IEC 62321:2008的相关条款。直到出版所有的部分,然而,对于那些还没有发布成一个独立部分的那些条款,IEC 62321:2008仍然是有效的。 本标准的内容基...
测试方法 IEC62321-5:2013 测试设备 ICP-OES 测试仪器 电子力学性能试验机 可售卖地 全国 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线...
IEC 62321的第一个版本:2008版是一个“独立”的标准,包括介绍,概述测试方法,机械制样以及各种测试方法条款。 IEC62321-5的第一版是部分替代了IEC62321:2008,形成结构的调整,替代的部分是条款第8至10,以及附件F,G和H。 IEC62321新版系列未来将逐步取代IEC 62321:2008的相应条款。然而,在此之前,IEC 62321:2008版...
1、IEC62321:2013-5电工产品中相关物质的测定电工产品中相关物质的测定-第第5 部分部分使用AAS,AFS,ICP-OES 和ICP-MS,分别测定聚合物和电子产品中镉,铅,铬的含量以及金属中镉和铅的含量Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP-OES and ...