【英/法语版】国际标准 IEC 62132-4:2006 EN-FR 集成电路的电磁抗扰度测量150 kHz至1 GHz——第四部分:直接射频功率注入法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method.pdf 关闭预览 想预览更多内容,点击免费在线预览全文 ...
Susceptibility,IEC62132-4, DirectPowerInjection Introduction TheEMCconductedimmunitycanbesignificantly improvedbyterminatingtheLINbuswithacapacitorto ground.Ononehanditwillloadthebussothemaximum valueislimitedtoensuret<5ms(seeLINPhysicalLayer SpecRev.2.0,paragraph3.1LINEcharacteristics).Onthe ...
IEC 62132-4 (2006-02)IEC / CEI
IEC 62132 的这一部分描述了一种在存在传导射频干扰(例如由辐射射频干扰引起)的情况下测量集成电路 (IC) 抗扰度的方法。该方法保证了抗扰度测量的高度可重复性和相关性。该标准为评估在无用射频电磁波环境中运行的设备中使用的半导体器件建立了共同基础。This part of IEC
C 62132-4 (2006-02) IEC 62132-4 (2006-02)IEC 62132-4 (2006-02)
1 Publication Order Number:AND8410/D AND8410/D EMC Conducted Susceptibility, IEC 62132-4,Direct Power Injection Introduction The EMC conducted immunity can be significantly improved by terminating the LIN bus with a capacitor to ground. On one hand it will load the bus so the maximum value is ...
国际标准分类中,iec 62132-4涉及到集成电路、微电子学、电磁兼容性(EMC)。 在中国标准分类中,iec 62132-4涉及到半导体集成电路。 欧洲电工标准化委员会,关于iec 62132-4的标准 EN 62132-4:2006集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法 IEC 62132-4:2006 ...
IEC 62132-5-2005-2005 IEC 62053-52-2005-2005 IEC 62093-2005-2005 IEC 61338-1-4-2005-2005 IEC 60061-1 AMD 36-2005-2005 IEC 60317-11-2005-2005 IEC 60384-6-2005-2005 IEC 60384-6-1-2005-2005 IEC 60439-2-2005-2005 IEC TS 62393-2005-2005 IEC TS 62325-502-2005-2005 IEC 62271-110...
介绍关于集成电路电磁抗扰度测量方法的国际标准 IEC 62132。对标准给出的四种方法——TEM 小室和宽带 TEM 小室法、大电流注入法、射频功率直接注入法及工作台法拉第笼法的测试原理,试验布置及测试过程中的注意事项进行了说明,列出四种方法的不同点,以帮助测试人员根据不同的 IC 特点选择相应的试验方法。
Short description The RF probe 12 GHz P512 is used for power injection (DPI) into IC pins according to IEC 62132-4. Due to the special design of the probe tip, the probe can be used as a coupling network for DPI as well as an RF probe and thus DPI investigat...