侧重点不同:“AES”更多地强调原子发射光谱的基本原理和过程,而“OES”则更侧重于光学发射光谱的测量方法和仪器应用。因此,在某些文献或技术文档中,可能会根据作者的偏好或目标受众的不同而选择使用其中一个术语。 实际应用中的一致性:尽管存在上述命名和侧重点的差异,但在实际应用中,ICP-OES和ICP-AES通常被视为等效...
ICP-AES和ICP-OES实际上是同一种技术,只是在不同时期有不同的叫法。ICP-OES是电感耦合等离子体发射光谱法的简称,旧称ICP-AES。两者都利用电感耦合等离子体作为激发源,通过测量样品中元素发射的光谱线来进行元素分析。 命名差异:ICP-AES更侧重于原子发射光谱的基本原理,而ICP-OES更强调光学发射光谱的测量方法和仪器...
ICP-AES和ICP-OES区别 ICP-AES和ICP-OES不是一个仪器。 1、ICP-AES是单道扫描光电直读光谱仪: 电感耦合等离子体焰矩温度可达6000~8000K,当将试样由进样器引入雾化器,并被氩载气带入焰矩时,则试样中组分被原子化、电离、激发,以光的形式发射出能量。 2、ICP-OES是电感耦合等离子原子发射光谱仪: 可同时分析...
ICP-AES和ICP-OES都是光谱分析技术，它们的主要区别在于激发光源的不同。简单来说，ICP-AES采用的是原子发射光谱法，而ICP-OES采用的是光学发射光谱法。两者的激发原理和光谱特点不同。以下是 一、ICP-AES技术介绍及特点 ICP-AES即电感耦合等离子体原子发射光谱法，是一种利用电感耦合等离子体作为激发光...
ICP-AES和ICP-MS的区别是,前者是发射光谱仪,后者是质谱仪。 近样系统都是等离子体,但是分析方法不一样,前者是原子外层的电子发出的特征光谱线经由光栅分光后来分析的;后者是电子在磁场中运行轨迹不一样,荷质…
ICP-AES、ICP-OES和ICP-MS的区别 ICP-AES又称ICP-OES,即电感耦合等离子体发射光谱仪,测量的是光学光谱。 ICP-MS即电感耦合等离子体质谱仪,以等离子体(ICP)为源、以质谱仪作为检测器,测量的是离子的质谱,提供在一定范围内每一个原子质量单位(amu)的信息,因此,ICP-MS除了元素含量测定外,还可测量同位素。
ICP-OES和ICP-AES是电感耦合等离子体发射光谱法不同时期的叫法,ICP-OES即Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry--电感耦合等离子体发射光谱法,旧称Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry(ICP-AES),由于等离子发射光谱技术中不仅选用原子谱线而且更多地采用离子谱线因而称ICP-OES更为科学...
区别: 1、测量对象 ICP-MS测量的是离子质谱,提供在3～250 amu范围内每一个原子质量单位(amu)的信息,ICP-MS除了元素含量测定外,还可测量同位素。 ICP-OES测量的是光学光谱(165～800nm) 2、干扰 ICP-MS的干扰:质谱干扰、基体酸干扰、双电荷离子干扰、基体效应、电离干扰、空间电荷效应。 ICP-OES干扰:光谱干扰、...
ICP-AES和ICP-OES是两种常见的原子发射光谱分析技术，它们在测量对象、干扰、线性动态范围、精密度和样品分析能力等方面存在显著差异。首先，从测量对象来看，ICP-MS专注于离子质谱，可提供原子质量单位（amu）范围内的详细信息，包括元素含量和同位素分析，而ICP-OES则专注于光学光谱，工作在165～800nm的...