ICP-MS测Si时,主要关注的是硅元素的检测性能。这包括检测限、线性动态范围、可能存在的干扰、以及测量的精度和准确度。具体来说,ICP-MS可以测量硅元素的最低浓度,也能准确测量其浓度范围。不过,测量时可能会受到其他元素的干扰,因此需要采取适当的校正措施。另外,精度和准确度也是评估Si指标时需要考虑的重要因素。
1.检测限:ICP-MS可以测量硅元素的最低浓度,通常以ng/L或ppb表示。 2.线性动态范围:ICP-MS能够准确测量硅元素的浓度范围,通常以几个数量级表示。 3.干扰:ICP-MS可能会受到来自其他元素的干扰,特别是在测量硅元素时。因此,评估Si指标时需要考虑干扰的影响,并采取适当的校正措施。 4.精度和准确度:ICP-MS测量硅...
摘要: 将钼铁样品用HNO3低温溶解完全后,加入内标元素45Sc,采用内标法,用ICP-MS仪进行测定.文中讨论了基体钼对测定的影响.本方法的加标回收率为98.0%～102.5%,相对标准偏差RSD为1.6%～3.5%.本方法具有简便、快速、准确等特点,可用于钼铁样品中微量杂质元素的分析....
我的样品都是1%硝酸介质，可是买的Si标准溶液是NaOH介质的，该怎么办？有文献用ICP-MS测硅，笼统地说...
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