ICP-MS通常用于测定超纯水、制程化学品和 OEM 零件表面提取溶液中的痕量元素。检出限通常低至万亿分之一(ppt)。由于分析物完全溶解并连续吸入等离子体，故产生恒定的信号强度，因此可测定总元素浓度。若采用极短的驻留时间（Dwell time）的时间分辨数据采集（每0.1ms收集一个数据点）模式，可以将每个纳米颗粒的瞬态...
如前所述，扫描型质量分析仪通常仅针对一种或两种元素，而TOF质量分析仪则能够瞬时记录单颗粒对应的整张质谱（所有质荷比），同时也包含了元素同位素和可能的氧化杂质信息。对于所记录的任何元素（基于质荷比），在瞬态单颗粒物事件持续时间内观察到的总离子信号与胆颗粒物中该元素的质量成正比。ICP-MS质谱仪检测到...
测定，以及使用ICP-TOF-MS和MC-ICP-MS测定）的示意图。（引自论文1） 新兴的基于飞行时间质量分析器的ICP-MS（即ICP-TOF-MS）克服了上述问题，能够实现高通量、较高灵敏度的单颗粒全元素检测（原理见图2）。和传统的spICP-MS前端一样，合适浓度的纳米颗粒/细胞悬浮液通过雾化引入到ICP焰炬中，颗粒/细胞被...
新兴的基于飞行时间质量分析器的ICP-MS(即ICP-TOF-MS)克服了上述问题,能够实现高通量、较高灵敏度的单颗粒全元素检测(原理见图2)。和传统的spICP-MS前端一样,合适浓度的纳米颗粒/细胞悬浮液通过雾化引入到ICP焰炬中,颗粒/细胞被完全气化并离子化。每个颗粒/细胞产生的离子云通过离子透镜系统等到达TOF质量分析器。
而单颗粒物产生的ICP-MS信号的持续时间非常短(几分之一毫秒),如使用扫描型质量分析仪(如四极杆或扇形场等),在毫秒尺度的瞬态信号时长内无法连续记录多种元素信息,通常只能提前选择颗粒物内的一个或两个元素进行数据采集,可能错失其他关键或非靶向的颗粒物污染信息,同时也需要耗时耗力多次重复实验来得到完整的多...
ICP-MS技术新应用系列之一|单颗粒的分析表征 岛津单颗粒ICP-MS可以快速准确的测量样品中颗粒的粒径大小、个数浓度、元素质量浓度等丰富信息,实现10 nm以上粒径的纳米颗粒的准确测量。样品前处理方法简便,仪器灵敏度高,非常适合分析低浓度的样品,已经被越来越多地应用到重金属的环境迁移转换,生物样品中的单细胞分析。
单颗粒物多元素ICP-MS质谱仪 使用由四极杆或扇形场质量分析仪为主的ICP-MS系统进行单颗粒物分析仅限于信息相对简单的样品(比如单元素金属或个别氧化物粒子),因为这类质量分析仪只能在瞬时单颗粒物事件持续时长内记录一种或两种元素信号。相比之下,飞行时间质量分析仪(比如TOFWERK icpTOF系统)则可以记录每个单颗粒物...
而单颗粒物产生的ICP-MS信号的持续时间非常短(几分之一毫秒),如使用扫描型质量分析仪(如四极杆或扇形场等),在毫秒尺度的瞬态信号时长内无法连续记录多种元素信息,通常只能提前选择颗粒物内的一个或两个元素进行数据采集,可能错失其他关键或非靶向的颗粒物污染信息,同时也需要耗时耗力多次重复实验来得到完整的多元素...
实际硅片样品Ti纳米颗粒分析 ▲图6 硅片提取液在1min的扫描事件下获得的TRA谱图 将前处理得到的硅片提取液在最佳化的进样条件下进行SP-ICP-MS/MS单颗粒分析,首先在时序扫描图(TRA)中,可以清晰的发现显著高于背景信号的48TiNH+(m/z=63)的脉冲峰(颗粒信号),如图6所示。单颗粒数据分析软件自动将TRA谱图进行数据...
单颗粒ICP-MS技术是一项新兴的纳米颗粒检测技术，可以用于ENMs在植物体内的富集转化和迁移研究。相对于TEM、SEM、DLS等ENMs的传统表征手段，单颗粒ICP-MS（SP-ICP-MS）可以快速、同时获得ENMs的成分、粒径分布、颗粒浓度及离子浓度等参数信息，目前已越来越多地被应用于各种ENMs的表征研究。本研究使用了赛默飞iCAP TQ...