LabVIEW软件与硬件的紧密集成使得整个系统能够高效地完成测试任务。软件不仅控制硬件执行测试,还处理数据,实现自动化的数据记录和分析。通过图形用户界面(GUI),用户可以轻松地设置测试参数、启动测试并查看实时数据和测试结果。 总结 该基于LabVIEW的I-V测试系统为有机光伏电池的性能评估提供了一个高效、准确的解决方案。它...
利用这种工具套件,研究人员可以同时进行直流和脉冲IV测试以掌握器件特性,例如如图2所示的FET器件系列特征曲线。 图2. 一系列FET曲线的脉冲I-V与直流I-V特征分析 对于具有较大电阻幅值变化的各种导电材料或器件,用户利用吉时利的6221/2182A组合可以设置最佳的脉冲电流幅值、脉冲间隔、脉冲宽度和其它一些脉冲参数,从而最大...
通过吉时利源表进行分立器件 I-V 特性测试时,支持同时操作两台吉时利源表,轻松完成三端口器件测试。此外,因为吉时利源表兼顾高精度和通用性,广泛适用于教育、科研、产业等众多行业。 fqj
简要描述:太阳能电池I-V特性测试:完整I-V曲线、完整P-V曲线测量功能,短路电流(Isc),开路电流(Voc),大功率点电压(Vm),大功率点电流(Im),大功率值(Pmax),转换效率(η),填充因子(FF),电流密度(Jsc),串联电阻(Rs),并联电阻(Rsh)。联系我们 在线咨询 详细说明: 太阳能电池I-V特性测试是指在一定光照下,...
溪谷科技开发的半导体分立器件I-V 特性测试方案,以美国吉时利公司开发的高精度源测量单元(SMU)为核心测试设备,配备使用简便灵活,功能丰富的CycleStar 测试软件,及精准稳定的探针台,为客户提供了可靠易用的解决方案,极大的提高了用户的工作效率。方案特点 丰富的内置元器件库,可以根据测试要求选择所需要的待测件...
晶硅体光伏方阵I-V特性现场测试设备主要基于光伏方阵的I-V特性曲线进行测试。该曲线描述了光伏方阵在不同光照和温度条件下的电流-电压关系。通过测量光伏方阵在不同条件下的I-V曲线,可以评估方阵的性能参数,如短路电流、开路电压、填充因子和转换效率等。
除了能够非常精确地输出和测量电压或电流输出大小,数字源表(SMU)还具有一致性测量特性,可以限定电压或电流输出大小,预防器件损坏。 单通道IV测试方案 单通道I-V测试系统以普赛斯数字源表为核心,搭载3A级太阳能模拟光源、夹具、温度控制器以及专用I-V测试软件等组成。可进行短路电流(Isc)、开路电压(Voc)、填充因子(FF...
半导体分立器件I-V特性测试方案 半导体分立器件是组成集成电路的基础,包含大量的 双端口或三端口器件,如二极管,晶体管,场效应管等。 直流I-V测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的 基石。通常使用I-V特性分析,或I-V曲线,来决定器 件的基本参数。微电子器件种类繁多,引脚数量和待 测参数各不相同,除此以外,...
Keithley源表将数字万用表 (DMM)、电源、实际电流源、电子负载和脉冲发生器的功能集成在一台仪器中。通过Keithley源表进行分立器件I-V 特性测试时,支持同时操作两台吉时利源表,轻松完成三端口器件测试。此外,因为Keithley源表兼顾高精度和通用性,适用于教育、科研、产业等众多领域。
微电子器件种类繁多,引脚数量和待测参数各不相同,除此以外,新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求,要求测试设备具备更高的低电流测试能力,且能够支持各种功率范围的器件。分立器件 I-V 特性测试的主要目的是通过实验,帮助工程师提取半导体器件的基本 I-V 特性参数,并在整个工艺流程结束后评估器件的优劣。