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IGBT,MOSFET,DIODE,高温栅偏测试设备(HTGB)型号:ST-HTXB_X系列 可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs/ MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的HTRB(高温反偏)、HTGB(高温栅偏)、H3TRB(高温高湿反偏) ♦产品简述 该试验系统是依据 GB/T 29332-2012/IEC60747-9:2007标准要求对器件测试,将栅极与发...
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(1) 珠海嘉仪测试设备使用成本低:试验过程安全可控,无发热源,不烧老化板、不烧线路。 (2) 试验数据不失真:试验过程偏压恒定,漏电流增大过程中不分压限流,确保试验偏压条件恒定,异常样品/失效样品独立关闭其偏压输入,不影响其它试验样品,确保试验数据真实。 电流检测板 控制方式:电脑程控,每个试验工位独立实时检测。
株洲中车时代半导体有限公司晶圆HTGB测试设备采购项目招标公告 株洲中车时代半导体有限公司晶圆HTGB测试设备采购项目招标公告
宜兴中车时代半导体有限公司高温栅偏测试台(HTGB)设备采购项目招标公告,相关公司为:湖南省招标有限责任公司;,相关行业及设备为:有,设备采购,车,中车时代,宜,体,兴,限公司,2024年,密封;项目简介:(招标编号:0623-2475N1110239) 1.招标条件 本招标项目宜兴中车时代半导体有
代理单位 湖南省招标有限责任公司 相关产品 高温栅偏测试台设备 联系方式 彭笛:0731-84530219 正文内容 点击查看公告内容: 宜兴中车时代半导体有限公司高温栅偏测试台(HTGB)设备采购项目中标候选人公示.pdf 附件下载 宜兴中车时代半导体有限公司高温栅偏测试台(HTGB)设备采购项目中标候选人公示.pdf下载 ...
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在半导体行业日益发展的背景下,测试设备的技术创新成为推动生产效率和产品质量的重要因素。2025年1月15日,浙江杭可仪器有限公司申请了一项名为“一种具有HTGB与HTRB切换功能的晶圆老化系统及使用方法”的专利。此项专利的核心功能是使得单台晶圆测试系统可以自主切换HTRB(高温反向偏置)和HTGB(高温正向偏置)测量模式,从而解...