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HITACHI S3400N扫描电子显微镜(SEM)拥有新开发的电光系统,具有更多的自动化功能,结合了自动轴功能,包括自动横梁设置、自动同轴轴。还具有3kV时低加速电压保证10nm分辨率、实时显示两幅图像、实时全屏图像等特点。高性能用于观察和分析材料的表面形貌和微结构。
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型号:Hitachi S-3400N 产地:日本 购买时间:2013年 2月 2.仪器的用途: Hitachi S—3400N型扫描电子显微镜,主要用于对材料的微观形貌、组织和成分进行有效分析。 3.仪器的性能指标: 1)分辨率 二次电子探头:≤3.0 nm(在30kV,高真空模式),≤10 nm(在3 kV,高真空模式);被散射探头:≤4.0 nm(在30kV,低真空模...
扫描电子显微镜,产品介绍:S-3400N扫描电子显微镜具有最新开发的电子光学系统,强大的自动化功能,操作更简易。特点:1. S-3400N具有强大的自动功能,包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、 自动合轴自动聚焦和消像散