3532-50 使用说明书 LCRHiTESTER i 目录 目录 前言...1 检查...2 关于安全...
HIOKI/3532-50/日置(Hioki) 3532-50 LCR测试仪 欲购买或租赁HIOKI/3532-50/日置(Hioki) 3532-50 LCR测试仪?请在线咨询或拔打24小时电话:13715327187详细资料:,产品描述:采用变频测量,备受好评的3522/3532 LCR HiTester已得到改进,最大高速测量功率为5毫秒(是现有型号的4倍)。这意味着线路灵活时间可以进一步缩短,...
LRC电桥测试仪 最快5ms(3522-50/3532-50)的高速LCR测试仪 宽频带、测量频率可调的3522/3532 LCR测试仪, 将测试速度提高到了5ms(是原有型号的4倍)。 3522-50可提供DC和1mHz~100kHz的测试频率, 3532-50的测试频带为42Hz~5MHz。能提供与 元器件工作条件更为接近的测试条件。
10、开发的高频LCR高性能测试器。 可测定高频100KHz120MHz 装卸式前置放大器 触摸式面板 低价格 小型 3535LCR高性能测定仪的特長 23 3554 电池测试仪 23 3554 电池测试仪电池测试仪 BATTERY HiTESTER 评价蓄铅电池劣化的新标准 性能特点性能特点 UPS电池测试的理想选择 自动保持和记录 最高存储4800组电池数据 平均...
HIOKI产品介绍
DC 4Hz 5MHz 0.5ms 阻抗分析仪 IM3570 LCR测试仪与阻抗分析仪合二为一 擅长测量压电元件的频率特性,功能性高分子电容,功率电感 DC 1mHz 200kHz 电气化学阻抗 2ms 分析仪 IM3590 LCR测试仪与阻抗分析仪合二为一 着重于测量电气化学领域的元器件,电池和EDLC等 3 IM3536 LCR测试仪 LCR HiTESTER DC,4Hz~8MHz...
HIOKI-3532-50-LCR-HiTESTER说明书 疲劳特征 零件 、构件的疲劳破坏可分为3个阶段 :①微观裂纹阶段。在循环加载下,由于物体的最高应力通常产生于表面或近表面区,该区存在的驻留滑移带、晶界和夹杂,发展成为严重的应力集中点并首先形成微观裂纹。此后,裂纹沿着与主应力约成45°角的最大剪应力方向扩展,裂纹长度大致...
3522-50/3532-50/3535 LCR HiTESTER 通过计算机进行外部控制 通过安装选件9593-01、RS-232C接口、或者GP-IB接口,除了电 源开/关以外,3522-50/3532-50本机的所有其它功能都可以 由计算机来实现控制。 使用表格计算软件的图表 通过使用市场上有售的标准表格计算软件,输入计算机的测 量数据即可实现图表化。以下的例...
3532-50 使用说明书 LCRHiTESTER i 目录 目录 前言...1 检查...2 关于安全...