日置(HIOKI)C测试仪 3506-10产品详情 产品参数 产品功能与应用模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量;提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度;1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量;根据BIN的测定区分容量;输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。RS-232C...
产品名称:日本日置电容测试仪HIOKI3506-10 产品型号: 更新时间:2024-08-20 产品简介: 专业为祖国用户提供日本日置电容测试仪HIOKI3506-10仪器设备、测试方案、技术培训、维修计量服务,为行业里一家有技术工程师的以技术为导向的仪器设备综合服务商。 产品特性Product characteristics ...
型号:3506-10 名称:C测试仪 品牌:日置(HIOKI) 分类:通用电子测试 > 元器件参数测试 > 电容测试仪 产品属性:主机 简述: 测量频率1MHz/1kHz的C测试仪 商品介绍 在线问答 HIOKI C测试仪 3506-10 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 ...
hioki日本进口日置 C测试仪 3506-10 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量根据BIN的测定区分容量 测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) 测量范围 C:0.001fF～15.0000μFD: 0.00001 ～ 1.99999Q:0.0 ～...
品牌:HIOKI日置 产品:容量测试仪 型号:3506-10 18122131902查看报价 产品详情 规格表 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 ● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 ● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度 ● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量 ...
日置3506-10高精度LCR数字电桥测试仪,模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量,提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度.仪器销售深圳市茂旭电子,联系方式:0755-83057523.
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品牌:HIOKI日置 产品:容量测试仪 型号:3506-10 18122131902查看报价 产品详情 规格表 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 ● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 ● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度 ● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量 ...
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