什么是HAST? (Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Testing)即高加速应力测试。通过对样品施加高温高湿以及高压的方式,实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验,用于评估产品密封性、吸湿性及老化...
其他标准 IEC PAS 62336:2002 加速耐湿.无偏差的HASTJEDEC JESD22-A102-C-2000 加速耐湿性.无偏差压热器JEDEC JESD22-A110-B-1999 A110-B 高加速温度湿度压力测验的测试方法JEDEC JESD22-A118-2000 加速抗湿性.无偏HASTJEDEC JESD22-A114F-2008 静电放电(ESD)敏感度测试人体模型(HBM)JEDEC JESD22-A117C-...
高加速温度和湿度应力测试(HAST), Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST), 提供JEDEC JESD22-A110D-2010的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范围等信息,也提供PDF预览(如果有PDF)以及下载地址(如
BHAST温湿度偏压高加速应力测试,bHAST温湿度偏压高加速应力测试(Bias Highly Accelerated Stress Test)bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性(参考与执行试验标准:JESD22-A110)。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀,看芯片的工作状态。施加电压的原则如下:测试芯片所有供电要接上,处于工作状态下的最小功耗。 B...
IEC 60749的这一部分提供了高度加速的温度和湿度应力测试(HAST),用于评估非气密封装半导体器件在潮湿环境中的可靠性。This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST)
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高加速温度和湿度应力测试(HAST), Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST), 提供JEDEC JESD22-A110E-2015的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范围等信息,也提供PDF预览(如果有PDF)以及下载地址(如