入射电子束与样品相互作用时会激发出各种信号,aSTEM探测器通过采集透射电子形成STEM图像(如图3所示)。 图3 电子束与样品的作用信号及STEM观察示意图 02 成像模式 STEM拥有多层环形探头(如图4所示) 配有四种成像模式,以选择最佳的扫描透射成像衬度: ①中心明场圆形探头1将生成类似TEM的明场(BF)像; ②探头2和3为暗...
从成像角度来分析，其与前面两者最大的区别是：TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。有个不合时宜的比喻：一为手电筒光源，一为激光器光源。很明显，激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器。示意图见图7。图7...
1988 年,美国Oak Ridge国家实验室的Pennycook 和他的同事借助100 kV加速电压下的VG HB501 STEM(仅可在STEM模式下工作的电镜,没有TEM模式),首次观测到YBa2Cu3O7-x和ErBa2Cu3O7-x的低指数晶带轴的高分辨HAADF像。从此STEM成像达到真正意...
舉测器AEFABF探测器探测卷图2STEM中探测器分布示意图图1STEM工作原理图扫描透射电子显微镜采用聚焦的高能(通常为100400keV)电子束(入射电子束直径可达0.126nm)扫描能透过电子的薄膜样品,利用电子与样品相互作用产生的弹性散射电子及非弹性散射电子来成像、电子衍射或进行显微分析。TEM、SEM和STEM三种成像方式的比较见表1...
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