扫描透射电子显微镜(STEM)从成像角度来分析，其与前面两者最大的区别是：TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。有个不合时宜的比喻：一为手电筒光源，一为激光器光源。很明显，激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探...
透射电镜TEM的工作原理 此处TEM特指普通分辨率TEM。它主要用于观测物质的微观形貌与组织,如催化剂粉末轮廓外形、纳米粒子大小与形态等。通常常用TEM分辨率为几纳米量级。下图1(多相粉末催化剂)、图2(纳米晶)为典型普通TEM图形。 图1 图2 电子与样品相互作用后,透射电子主要分为三大类:透射电子,弹性散射电子和非弹性...
结果表明:在TEM欠焦量处于最佳状态下HRTEM具有最高分辨率。此时,对薄晶体来说,原子通常表现出暗衬度,也就是原子变暗。但是在实际应用中,有时它还可能是明亮的(请高手指教)。 扫描透射电子显微镜(STEM) 从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集...
(1)比较研究了TEM与HAADF方法表征Ru/C催化剂贵金属分散性质的差异:TEM方法由于样品质厚的原因,存在大量钌粒子统计遗漏;而HAADF方法能够更完整地辨别出炭载体上的贵金属颗粒,表征结果更为可靠。 (2)以平均尺寸、尺寸分布来表征贵金属分散性质时,与TEM方法...
从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。有个不合时宜的比喻:一为手电筒光源,一为激光器光源。很明显,激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器。示意图见图7。
从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。有个不合时宜的比喻:一为手电筒光源,一为激光器光源。很明显,激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器。示意图见图7。
聚焦离子束技术(FIB)主要用于半导体行业的样品制备,典型应用包括质量控制、晶圆修复和微电子故障分析。透射电子显微镜(TEM)的高分辨率成像和电子衍射可提供重要的辅助结构信息,晶体结构信息和化学成分信息。二者结合使用对于半导体研究中的精细结构观察、晶体结构分析等至...
在 TEM 中,被高电压加速的电子照射到试样上,入射电子与试样中原子之间发生多种相互作用。其中弹性散射电子分布在比较大的散射角范围内,而非弹性散射电子分布在较小的散射角范围内,因此,如果只探测高角度散射电子则意味着主要探测的是弹性散射电子。这种方式并没有利用中心部分的透射电子,所以观察到的是暗场像。
(1)比较研究了TEM与HAADF方法表征Ru/C催化剂贵金属分散性质的差异:TEM方法由于样品质厚的原因,存在大量钌粒子统计遗漏;而HAADF方法能够更完整地辨别出炭载体上的贵金属颗粒,表征结果更为可靠。 (2)以平均尺寸、尺寸分布来表征贵金属分散性质时,与TEM方法相比,HAADF方法得到的催化剂的分散性质更为准确。