由于非弹性散射电子大都集中分布在一个顶角很小的圆锥内,适当地放置探头, EELS 的接受效率会很高, 相比 EDS分析, EELS 的记谱时间更短, 特别是用于小束斑分析薄样品时;另外, EDS 在探测轻元素( Z<11)时只有 1%的信号能接收到,且谱线重叠比较严重,而 EELS 的能量分辨率( 1eV)远高于 EDS( 130eV),因此, ...
由于非弹性散射电子大都集中分布在一个顶角很小的圆锥内,适当地放置探头, EELS 的接受效率会很高, 相比 EDS分析, EELS 的记谱时间更短, 特别是用于小束斑分析薄样品时;另外, EDS 在探测轻元素( Z<11)时只有 1%的信号能接收到,且谱线重叠比较严重,而 EELS 的能量分辨率( 1eV)远高于 EDS( 130eV),因此, ...
既然如此,那为什么STEM中仍然会配备EDS探头呢? 主要原因是EDS很适合对重元素进行探测和定量分析。另外,从实验技术上讲,要想通过EELS得到准确的样品信息,样品必须足够薄,随后需要做大量的数据处理,对图谱数据的理解需要更多的物理知识,所以对个人实验技术和专业知识都有很高的要求。因此,在扫描透射电子显微镜中两种谱仪总...
既然如此,那为什么STEM中仍然会配备EDS探头呢? 主要原因是EDS很适合对重元素进行探测和定量分析。另外,从实验技术上讲,要想通过EELS得到准确的样品信息,样品必须足够薄,随后需要做大量的数据处理,对图谱数据的理解需要更多的物理知识,所以对个人...
电镜测试中常用的元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM, 视频播放量 3910、弹幕量 1、点赞数 51、投硬币枚数 11、收藏人数 121、转发人数 11, 视频作者 电化学与电催化, 作者简介 王老师,中科院博士,华算科技全职电化学专家,本硕博15篇SCI,12年电化学科研经验!QQ群:83
图3 催化剂Cu2O-Pt/SiC/IrOx 的(a) TEM、(b) HRTEM 图像和(c) STEM 图像及相应的EDS元素分布图 利用电子衍射技术,如选定区域电子衍射(SAED)或会聚束电子衍射(CBED),可以从很小的体积中形成衍射图样,从而获得样品的结构信息。从历史上看,CBED 是最古老的...
首先，我们来探讨X射线能谱（EDS）的原理和应用。EDS是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征X射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而释放出具有一定能量的...
通过最先进的同步加速器x射线断层扫描与元素分析和STEMEELS/能量色散x射线光谱(EDS),可以清楚地显示出掺杂物的分布(图10a)。Mg和Al是体相掺杂,以增强电子导电性,抑制不良相变,而Ti容易在晶界处偏析,从而修饰微观结构,不仅促进结构应力均匀分布,而且通过抑制界面副反应和氧活性稳定表面结构(图10b,c)。金属和非金属...
HAADF即高角环形暗场像,也叫Z-衬度像,其是在STEM模式下获得的,像的形成是通过一个环形的暗场探测器来收集高角的弹性散射电子的。与高分辨不同的是,HAADF是由非相干弹性散射电子所成的像。相位差和干涉对于HRTEM成像起支配作用,而与HAADF成像无关。每个原子可以认为是独立的散射体。HAADF所接受的是大角度散射的电...
X 射线能谱( Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)是微区成分分析最为常用的一种方法,其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时,会在内层电子处产生一个空缺,原子处于能量较高的激发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而释放出具有一定能量的特征 X...