HAADF图像即高角度环形暗场图像,它是通过高角度环形暗场扫描透射电子显微镜(STEM)技术获得的。以下是对HAADF图像的详细解释: 一、成像原理 散射电子收集:HAADF图像是通过用环形暗场探测器收集散射(相对于透射)电子形成的。这些散射电子主要是高角度的非相干散射电子。 Z-对比成像:由于形成图像的高角度非相干散射电子对平...
扫描透射电子显微镜(STEM)从成像角度来分析，其与前面两者最大的区别是：TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。有个不合时宜的比喻：一为手电筒光源，一为激光器光源。很明显，激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探...
3Z衬度像/HAADF-STEM像Z 衬度像/HAADF-STEM 像( Z-contrast Imaging/ High angle annular dark field image,HAADF)20 世纪 90 年代以来,随着电镜硬件的不断发展,尤其是具有场发射电子枪的超高真空电镜的出现和普及,一种高分辨扫描透射成像技术,即高分辨或原子分辨率的原子序数( Z)衬度像( High Resolution or...
扫描透射电子显微镜(STEM) 从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。有个不合时宜的比喻:一为手电筒光源,一为激光器光源。很明显,激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器。
扫描透射电子显微镜(STEM) 从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。有个不合时宜的比喻:一为手电筒光源,一为激光器光源。很明显,激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器...
有了图像模拟的辅助,我们就可以从原子分辨的HAADF-STEM图像中得到材料确切的结构和成分信息。 图2 SrTiO3[001]晶向HAADF-STEM像(模拟的图像和投影结构叠加在实验图像的右上方) 如图2所示,在计算像和晶体结构模型的辅助下,可以确定图中稍大的亮点为原子序数较大的Sr原子柱,而较小稍暗的亮点则对应于原子序数较小的...
2003 年,Batson等人将球差矫正器应用于HB501 STEM 中,把电子束斑尺寸减小到0.078 nm,使原子图像实现了前所未有的清晰度。 这样不仅HAADF衬度像本身直接显示样品中的元素分布,还可以对衬度像中的每一个原子柱进行原位的EELS分析,从而直接辨...
除了FIB的溅射功能外,还可以使用SEM的所有成像和分析功能,如SE、BSE、CL、EBSD和EDX。与STEM探测器组装在一起的,可在30kV电压下获取STEM图像;从而获得具有高空间分辨率的Z衬度图像,类似于低电压下的TEM。 三维成像和三维显微分析是FIB-SEM双束的重要特征,因为它...
其中高角环形暗场像(HAADF-STEM)为非相干高分辨像,图像衬度不会随着样品的厚度及物镜的聚焦的改变而发生明显的变化,像中亮点能反映真实的原子或原子对,且像点的强度与原子序数的平方成正比,因而可以获得原子分辨率的化学成分信息。近年来,随着球差校正技术的发展,扫描透射电镜的分辨率及探测敏感度进一步提高,分辨率...
HAADF-STEM(高角环形暗场扫描透射电子显微镜)是一种基于扫描透射电子显微镜(STEM)的高分辨率成像技术,通过收集高角度散射的电子