内容提示: 中华人民共和国国家军用标准半导体分立器件试验方法T est methodsFor semicondctor discrete devices GJB128A-97 代替G JB 128-861 范围1.1 主题内容本标准规定了半导体分立器件以下简称器件的通用试验方法包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验机械性能试验和电特性测试1.2 适用范围 本标准适... 文档格式...
【正版】GJB 128A-1997 下载积分: 8000 内容提示: PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn 文档格式:PDF | 页数:255 | 浏览次数:1000 | 上传日期:2019-07-21 23:50:15 | 文档星级: PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn ...
PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
类似零件编号 - GJB-128A 制造商 部件名 数据表 功能描述 Roithner LaserTechnik G... GJB-128A 215Kb / 11P The specification covers the appearance and characteristics of 850nm Laser Diode used as light sorce More results 类似说明 - GJB-128A 制造商 部件名 数据表 功能描述 Hitachi Semiconductor ...
类似零件编号 - GJB-128A 制造商 部件名 数据表 功能描述 Roithner LaserTechnik G... GJB-128A 204Kb / 10P Multi-Quanyum Well (MQW) Laser Diode More results 类似说明 - GJB-128A 制造商 部件名 数据表 功能描述 Advanced Crystal Techno... ACTF46 733Kb / 7P This specification covers the ...
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验 本标准规定了半导体分立器件（以下简称器件）的通用试验方法，包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试 深圳安车昇辉检测有着多年的军用品检测经验，提供军用品检测服务，国家高新技术企业，检测资质齐全，实验室仪器先进，...
因此，为了规范半导体分立器件的筛选工作，提高器件的质量和可靠性，军事部门制定了GJB128A-97标准。二、筛选原则GJB128A-97标准规定了半导体分立器件筛选的基本原则，包括以下几点：1. 筛选应全面、客观、科学，确保筛选结果的准确性和可靠性。2. 筛选应针对不同的器件类型和应用领域，制定相应的筛选方案。3. 筛选应...
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验第三方检测 本标准规定了半导体分立器件(以下简称器件)的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试 深圳安车昇辉检测有着多年的军用品检测经验,提供军用品检测服务,国家高新技术企业,检测资质齐全,实验室仪器先进,科研团队强大,严格把控实验细节,...
检测标准 GJB128A-1997 检测费用 根据产品资料评估 检测资质 CNAS 服务项目 二次筛选、可靠性验证、失效分析 检测报告 CNAS检测报告 实验室地点 东莞、苏州 联系人 冯工 可售卖地 全国 类型 电子元器件 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着...
(高清正版) GJB33-009-89半导体分立器件闸流晶体管空白详细规范 星级: 11 页 (高清正版) GJB33-85半导体分立器件总规范 星级: 6 页 (高清正版) GJB 128-86半导体分立器件试验方法 星级: 113 页 (高清正版) GJB 128A-97半导体分立器件试验方法 星级: 254 页 (高清正版) GJB 128-86半导体分立器件...