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中华人民共和国国家军用标准半导体分立器件试验方法T est methodsFor semicondctor discrete devices GJB128A-97 代替G JB 128-861 范围1.1 主题内容本标准规定了半导体分立器件以下简称器件的通用试验方法包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验机械性能试验和电特性测试1.2 适用范围 本标准适用于军用半导体分立器件1.3 应...
部件名GJB-128A 下载GJB-128A下载 文件大小204.61 Kbytes 页10 Pages 制造商ROITHNER [Roithner LaserTechnik GmbH] 网页http://www.roithner-laser.com 标志 功能描述Multi-QuanyumWell(MQW)LaserDiode 类似零件编号 - GJB-128A 制造商部件名数据表功能描述 ...
内容提示: 中华人民共和国国家军用标准半导体分立器件试验方法T est methodsFor semicondctor discrete devices GJB128A-97 代替G JB 128-861 范围1.1 主题内容本标准规定了半导体分立器件以下简称器件的通用试验方法包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验机械性能试验和电特性测试1.2 适用范围 本标准适... 文档格式...
类似零件编号 - GJB-128A 制造商 部件名 数据表 功能描述 Roithner LaserTechnik G... GJB-128A 204Kb / 10P Multi-Quanyum Well (MQW) Laser Diode More results 类似说明 - GJB-128A 制造商 部件名 数据表 功能描述 Advanced Crystal Techno... ACTF46 733Kb / 7P This specification covers the ...
因此，为了规范半导体分立器件的筛选工作，提高器件的质量和可靠性，军事部门制定了GJB128A-97标准。二、筛选原则GJB128A-97标准规定了半导体分立器件筛选的基本原则，包括以下几点：1. 筛选应全面、客观、科学，确保筛选结果的准确性和可靠性。2. 筛选应针对不同的器件类型和应用领域，制定相应的筛选方案。3. 筛选应...
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验 本标准规定了半导体分立器件（以下简称器件）的通用试验方法，包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试 深圳安车昇辉检测有着多年的军用品检测经验，提供军用品检测服务，国家高新技术企业，检测资质齐全，实验室仪器先进，...
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验第三方检测 本标准规定了半导体分立器件(以下简称器件)的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试 深圳安车昇辉检测有着多年的军用品检测经验,提供军用品检测服务,国家高新技术企业,检测资质齐全,实验室仪器先进,科研团队强大,严格把控实验细节,...
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【正版】GJB 128A-1997 下载积分: 8000 内容提示: PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn 文档格式:PDF | 页数:255 | 浏览次数:1000 | 上传日期:2019-07-21 23:50:15 | 文档星级: PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn ...