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GJB128A-97静电放电测试仪 摘要:GJB128A半导体分立器件试验方法,该标准代替了GJB 128-86为中华人民共和国国家军用标准。本标准规定了半导体分立器件的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试。 GJB128A试验方法是建立半导体器件对流电放电(ESD)损伤或退化敏感度的分类程序。本...
因此，为了规范半导体分立器件的筛选工作，提高器件的质量和可靠性，军事部门制定了GJB128A-97标准。二、筛选原则GJB128A-97标准规定了半导体分立器件筛选的基本原则，包括以下几点：1. 筛选应全面、客观、科学，确保筛选结果的准确性和可靠性。2. 筛选应针对不同的器件类型和应用领域，制定相应的筛选方案。3. 筛选应...
GJB128A-97静电放电发生器 摘要:GJB128A半导体分立器件试验方法,该标准代替了GJB 128-86为中华人民共和国国家军用标准。本标准规定了半导体分立器件的通用试验方法,包括军用条件下抗损害能力的基本环境试验、机械性能试验和电特性测试。 GJB128A试验方法是建立半导体器件对流电放电(ESD)损伤或退化敏感度的分类程序。本...
GJB128A-97半导体分立器件测试方法 1000系列环境测试方法 1001低气压 1.目的 该测SY于测试机器人在模拟低压条件下的适应性,即模拟飞机在高空飞行时的密封部分。 2.程序 该设备应按照GJB 360A中的方法105进行测试。此外,应使用以下规则: 一种。试验前及试验中20min,试验温度为25±5℃。
GE6571一94半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管B9491一88锡焊用液态焊剂（松香基）GB11499一89半导体分立器件文字符号 GB12300-90功率晶体管安全工作区测试方法 GB33A-97半导体分立器件总规范G B360A-96电子及电气元件试验方法 gB762.1一89半导体器件辐射加固试验方法中子辐照试验 gB762.3一89...
GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》交变湿热试验箱的产品用途 P系列代表的是采用Q8-901中英文彩色触摸屏式人机界面(画面对谈式)电脑控制的可程式恒温恒湿试验箱.可选配USB曲线记录,数据储存装置. 超低湿试验箱,除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)....
GB11499一89半导体分立器件文字符号 GB12300-90功率晶体管安全工作区测试方法 GB33A-97半导体分立器件总规范G B360A-96电子及电气元件试验方法 gB762.1一89半导体器件辐射加固试验方法中子辐照试验 gB762.3一89半导体器件辐射加固试验方法r瞬时拍辐照试验 gB1209一91微电路生产线认证用试验方法和程序...
GJB128A-97半导体分立器件筛选:出厂筛选、二次筛选 电子元器件筛选覆盖范围: 半导体集成电路:时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、致模转换器(A/D、D/A、SRD)...