建立了一种液晶材料中微量有机膦杂质的分析测试方法,可以同时测试晶材料中微量三苯基膦和三苯基氧膦杂质.方法重现性好,结果相对标准偏差(RSD,n=5)为4.4%-5.6%,有机膦杂质的添加回收率为80%-110%. 著录项 来源 《2016中国平板显示学术会议》|2016年|737-740|共4页 会议地点 合肥 作者 HUO Xuebing;...