ORTEC-GEM30P4-76-PL高纯锗伽马能谱仪 半导体(高纯锗和Si(Li))探测器拥有精锐的能量分辨率,由其组成的γ和X射线能谱测量技术与产品,不仅是核结构、分子物理、原子碰撞等核物理与核反应研究的重要工具,而且在核电、环境、检验检疫、生物医学、天体物理与化学、地质、法学、考古学、冶金和材料科学等诸多科学与社会领...
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型号: GEM30P4-76-PL 分辨率: 0.8 品牌: ORTEC 测量精度: 0.23 货号: 003 加工定制: 是 电源电压: 220 规格: 7030 重量: 220 测量范围: 10-220 外形尺寸: 158 GEM30P4-76-PL高纯锗γ能谱仪 一、“宽能”探测器:GEM-S/GEM-C/GEM-SP 三个系列可选:“精锐”、“全优”和“超精锐...