GATS®-7755 for ICS / SLP 高速·高精度穿梭式分步重复型OPEN/LEAK 电路板自动检测系统 适用于多面电路板(SLP/ICS/MCM/MCP/CSP 等)的导通和短路(绝缘) 检测。适用于微细间距FC-CSP和无芯电路板的新一代高速·高精度检测装置! 功能: 双台面/穿梭型、 综合对位精度 ±2.5 µm、兼容嵌入式元件电路板 (...
GATS-7755基板测试机搭载双测试台面,适用于大批量生产的细间距板的批量检测,实现对MCM / MCP / BGA / CSP等产品进行断短路检测。 “High speed & accuracy inspection for Fine Pitch FC-CSP, Next-generation’s inspection system available for core-less substrate!” The GATS-7755 is a substrate inspectio...
型号GATS-7755 品牌Nidec 尼得科 类型基板检测设备 13862412338 产品详情 产品用途: 主要针对 FC-CSP等封装基板的电性能测试。 产品特点: ·双台面往复式结构,大大提高测试效率; ·使用伺服马达实现上下治具的上升/下降(数位控制); ·双面CCD自动定位,综合对位精度 ±2.5μm; ...
gats7755半导体封装 更新时间:2024年12月14日 综合排序 人气排序 价格 - 确定 所有地区 已核验企业 查看详情 ￥0.50/PCS 广东深圳 IXBH2N250 2500V 5A 32W 封装TO-247-3 半导体IGBT晶体管 在线交易 IXYS品牌 深圳市如愿电子有限公司 3年 查看详情 ￥33.33/个 广东深圳 IRGP4790PBF 电子元器件 INFINEON...
” The GATS-7755 is a substrate inspection system with Double-table (shuttle style) which is suitable for batch inspection of mass-produced fine-pitch boards. The GATS-7755 tester can perform Open/Short inspection for MCM/MCP/BGA/CSP, etc. "實現細線路FC-CSP的高速高精度測試,新世代無芯基板...
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