JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线...
SEM是利用二次电子,背散射电子呈像,而EPMA是用元素的特征X射线进行成像。其中二次电子像用来观察材料的晶粒形状、大小和表面细节等,背散射电子像常被用来分析复相材料或坚定材料中的杂志物相。16.8 EPMA中材料的线分析图和元素分布图是利用哪种次级射线得到的?答:元素的特征X射线16.9透射电子显微镜(TEM)主要有哪几...