一、芯片动态测量技术的瓶颈与挑战 芯片动态测量技术是指通过电学参数来动态监测芯片的电气行为,并对其进行分析和评估的技术。这种技术可以在芯片生产过程中实现即时监测和反馈,从而有效提高生产效率和产品质量。然而,由于芯片制造工艺日益复杂,芯片动态...