CEAM配备的Talos F200X透射电镜，其分辨率高达0.12纳米，无论是何种样品，亦或是从哪个晶带轴进行拍摄，都能在这台神器之下得到精准的表征。这款TEM透射电子显微镜，以其出色的技术参数和成像效果，成为科研领域中的得力助手。Talos F200X电镜在不同模式下展现卓越性能，为科研提供有力支持，尤其是在成像和元素分析方面。它不仅适用于金属
型号 JEM-F200 加工定制 否 点分辨率 0.19nm 线分辨率 0.10nm 加速电压 20-200kV 加速电压稳定度 0.5ppm/min(峰峰值) 探针电流 2.5nA(@束斑直径0.7nm) 能量发散度 0.3eV 污染速度 低于0.4nm/min 电子枪真空度 10-8Pa 预抽室 有 透镜系统稳定度 1ppm/min(峰峰值) 能谱仪 可选 能量分...
分析测试中心东校园分中心200 kV冷场发射透射电镜已经安装调试完毕,即日起至2025年5月31日拟进入试运行阶段;同时为更好地满足校内师生的测试需求,拟对校内持有同类型仪器自主上机操作合格证的师生,开展Talos F200X G2首批自主操作资格考核...
日本电子JEOL场发射透射电镜F200JEM-F200的外观和操作模式基于“智能化”的理念进行了全新的设计。全新的人机界面使得用户可以专注于电镜观察和分析工作。得益于日本电子在电子光学领域多年的积累,新设备采用了球差电镜的高稳定度的设计理念,该设备的机械稳定度和电气稳定度得以大大改善,从而可以保证更加出色的性能。 JEM...
1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受;2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制;3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能...
JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5,可以在装置不运行时,以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能,能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。 外观设计精炼 精炼的外型,全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便...
JEM-F200自动进样透射电镜 透射电镜操作难点1,插拔样品杆;2,电镜操作 JEM-F200自动插拔样品杆 JEM-F200图像操作界面 [分辨率] STEM 0.16 nm (200 kV) TEM (晶格, 点) 0.19 nm (200 kV) 0.10 nm (晶格, 200 kV) [放大倍率] STEM x 20,000 ～ x 200,000,000 TEM x 200 ～ x 1,500,000 [电子...
JEM-F200是一种新型场发射透射电子显微镜,具有更高的空间分辨率和分析性能,易于使用的多用途新操作系统,智能外观,以及各种环保、节能系统。 特征 JEM-F200是一种新型场发射透射电子显微镜,具有更高的空间分辨率和分析性能,易于使用的多用途新操作系统,智能外观,以及各种环保、节能系统。
规格: JEM-F200 商品类型: 自动进样场发射透射电镜 应用领域: 科研、实验室 成像方式: 高分辨率成像 功能: 自动进样、场发射、透射电镜观察 产品特点: 高分辨率、高稳定性、易操作 观察范围: 微观结构观察 光源类型: 电子束 真空系统: 高性能真空系统 控制方式: 电脑控制 软件支持: 专业分析软件...
材料分析透射电镜 Talos F200X TEM功能: 可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG) 选择高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将 (S)/TEM 成像及能量分辨率相结合。 直观的软件 Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。 更短的化学成分获得周期 快速、精确的定量...